掃描電鏡高溫力學(xué)原位硏究系統(tǒng)(In-situ mechanical testing system at High temperature in SEM)是國(guó)家重大科學(xué)儀器研制專項(xiàng)的成果轉(zhuǎn)化產(chǎn)品,其特征是將宏觀材料力學(xué)實(shí)驗(yàn)置于具有與納米分辨的掃描電子顯微鏡內(nèi),實(shí)現(xiàn)了宏觀力學(xué)性能與納米層次結(jié)構(gòu)分析的一體化。

主要功能為在納米分辨的二次電子成像和背散射成像(EBSD)的觀察條件下,實(shí)現(xiàn)室溫至1200°C高溫的拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲等原位力學(xué)實(shí)驗(yàn)。主要用于硏究各類材料在力、熱以及耦合條件下的力學(xué)性能測(cè)試與微觀組織結(jié)構(gòu)演變機(jī)制硏究。該儀器也可以兼容匹配各類光學(xué)顯微鏡(OM)、X射線衍射儀(XRD)和原子力顯微鏡(AFM)等材料微觀分析儀器。

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