Exicor® PV-Si 應(yīng)力雙折射檢測

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
品牌 Hinds Instruments
型號 Exicor® PV-Si
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時間 2025/10/27 10:32:37
訪問次數(shù) 4228

產(chǎn)品標簽

應(yīng)力雙折射檢測 hinds instruments 應(yīng)力儀應(yīng)力測量應(yīng)力檢測

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公司介紹 主營產(chǎn)品

北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年，專業(yè)代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括：

光學(xué)檢測產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調(diào)相位延遲波片等；

激光檢測產(chǎn)品：激光功率計、能量計及光束質(zhì)量分析儀等；

集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等

顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。

值得一提的是，近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀，偏心曲率測量儀等產(chǎn)品，為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎(chǔ)。

展開

測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切

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應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶

　　在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當這臺儀器被用作質(zhì)量控制工具時，在后續(xù)加工成本發(fā)生之前，可以識別出低質(zhì)量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質(zhì)量的工具，使其能夠生產(chǎn)出較薄的硅片，降低了機械產(chǎn)量損失。

　　Hinds Instruments 的Exicor® 應(yīng)力雙折射檢測系統(tǒng)PV-Si是Exicor雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺的擴展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光電二極管探測器，實現(xiàn)了光伏和半導(dǎo)體工業(yè)中硅材料的高精度雙折射測量，除硅外，還可測量藍寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用，可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠。臺面設(shè)計和直觀的自動掃描軟件使該產(chǎn)品成為原材料改進、研發(fā)和日常評估的選擇，也是對原始硅錠和其他高技術(shù)材料進行評估的選擇。