長久以來，X射線吸收精細結構譜 (XAFS)只能在各個同步輻射光源上測試。由于光源機時有限，無法滿足眾多科研工作者的測試需求。而近些年，XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級期刊的“標配”，致使越來越多課題組需要XAFS測試。秉持著讓XAFS走進每個實驗室的理念，中國科學院高能物理研究所和中國科學技術大學聯(lián)合推出了全新的X射線吸收精細結構譜儀(RapidXAFS)。

臺式XAFS產(chǎn)品優(yōu)勢：

具有如下特點:

• 最高光通量產(chǎn)品

  光子通量高于1000000光子/秒/eV-4000000光子/秒/eV，采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品；獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量

• 優(yōu)異的穩(wěn)定性

  光源單色光強度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%，重復采集能量漂移 < 50 meV

• ＜1%探測極限

  高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和光源穩(wěn)定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)

• 雙羅蘭圓結構

  突破性使用雙羅蘭圓結構，在一個X射線源情況下同時表征2個元素局域結構
  

X射線吸收精細結構 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

臺式XAFS主要有以下優(yōu)點:

1. 不依賴于長程有序結構，可用于非晶態(tài)材料的研究;

2. 不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究;

3. 對樣品無破壞，在大氣環(huán)境下測試，可進行原位測試;

4. 不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等;

5. 能獲得配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結構參數(shù)，原子間距精確度可達0.01A。

雙羅蘭圓結構設計

可以媲美同步輻射分辨率

XES測試可以區(qū)分N、C、O

XAFS譜主要包括兩部分:X射線吸收近邊結構(XANES)和擴展X射線吸收精細結構(EXAFS)。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV，來源于X射線激發(fā)出來的內(nèi)層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應的結果。XANES包含了吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍，其主要來源于X射線激發(fā)出的內(nèi)殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應。

可測元素：綠色部分可測K邊，黃色部分可測L邊

XAFS 應用：

• 工業(yè)催化

• 儲能材料

• 納米材料

• 環(huán)境毒理

• 也質(zhì)分析

• 重元素分析