KLA Zeta™-300光學輪廓儀
| 參考價 | ￥50000-￥999999/臺 |
- 公司名稱 德國韋氏納米系統(tǒng)有限公司
- 品牌KLA-Tencor
- 型號
- 所在地香港特別行政區(qū)
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時間2025/3/9 19:53:24
- 訪問次數(shù) 837
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韋氏納米（FIRSTNANO）是一家成立于2012年的德國公司，由三位材料學博士共同創(chuàng)辦?；凇?span style="padding: 0px; margin: 0px; list-style: none; font-size: 16px; color: rgb(255, 0, 0);">Science is international”的理念，三位創(chuàng)始人提出了“全球協(xié)同實驗室”的夢想，致力于推動全球科研合作與技術(shù)創(chuàng)新。韋氏納米專注于半導體技術(shù)、材料科學、生命科學等科研領(lǐng)域，始終秉持“前沿、專業(yè)、科學”的宗旨，將技術(shù)引入?yún)f(xié)同實驗室，助力科學家實現(xiàn)突破性研究。
自2015年香港（中華區(qū)）公司成立以來，韋氏納米在中國穩(wěn)步發(fā)展，相繼在香港、深圳、上海和武漢設立了分支機構(gòu)，形成了覆蓋全國的科研服務網(wǎng)絡。我們的產(chǎn)品和服務涵蓋微納加工制程、材料科學的檢測與分析、生命科學成像、腦科學與行為認知等領(lǐng)域，為全球科研工作者提供技術(shù)支持與解決方案。
韋氏納米的愿景是“從科學家到科學家，科學開創(chuàng)美好未來”。我們堅信，科學無國界，全球科研工作者應攜手合作，共同推動人類科技進步。韋氏納米不僅是一家科學儀器供應商，更是全球科研生態(tài)的重要參與者。我們致力于通過“全球協(xié)同實驗室”的理念，將前沿技術(shù)與全球科研需求緊密結(jié)合，助力科學家實現(xiàn)更多研究成果。
韋氏納米匯聚了一支由高學歷、高素質(zhì)人才組成的國際化團隊。我們的團隊成員具備深厚的專業(yè)背景和豐富的行業(yè)經(jīng)驗。公司始終注重人才培養(yǎng)與引進，博士及碩士學歷人才占比超過70%。正是這支充滿激情與創(chuàng)造力的團隊，推動韋氏納米在科研儀器領(lǐng)域不斷進步，贏得了全球客戶的信任。
韋氏納米在中國設有完善的本地化服務體系，覆蓋售前、售中和售后全流程。我們在上海、深圳、武漢和香港均設有技術(shù)支持中心和樣機實驗室，為客戶提供及時響應的技術(shù)支持和設備體驗。此外，我們還建立了高效的備件庫和物流體系，確保客戶能夠獲得所需的服務與支持。
“不僅提供前沿的產(chǎn)品，更注重服務”是韋氏納米的核心價值。我們深知，科研儀器的價值不僅在于其技術(shù)性能，更在于其能否真正滿足科學家的研究需求。因此，我們始終以客戶為中心，致力于為每一位科研工作者提供定制化的解決方案。
公司愿景是從科學家到科學家，科學開創(chuàng)美好未來。
FIRSTNANO深耕于半導體技術(shù)、材料科學、生命科學等科研領(lǐng)域，始終秉承“前沿、專業(yè)、科學”的宗旨，將前沿技術(shù)引進到協(xié)同實驗室。我們的產(chǎn)品覆蓋了微納加工制程；材料科學的檢測、分析；生命科學成像，腦科學與行為認知等相關(guān)領(lǐng)域。作為全球科技前沿的儀器供應商，FIRSTNANO具有全球技術(shù)視野、優(yōu)質(zhì)供應體系、以及嚴格的質(zhì)量管控系統(tǒng)，能為客戶提供前沿的技術(shù)解決方案。
公司服務的客戶領(lǐng)域廣泛，其中包括消費電子、航空、航天、醫(yī)藥技術(shù)、半導體行業(yè)、光電子行業(yè)、高校和研究機構(gòu)。
在成長的過程中，我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港（中華區(qū)）公司成立以來，我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設立了分支機構(gòu)。
我們真誠邀請業(yè)內(nèi)英才加入FIRSTNANO TEAM，一起為夢想揚帆起航！
半導體儀器和電子產(chǎn)品耗材耗材
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 50萬-100萬 | 應用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
KLA Zeta™-300光學輪廓儀一款非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)。KLA Zeta™-300光學輪廓儀以Zeta-20 3D輪廓儀的功能為基礎，具有額外的防震選項和靈活的配置，可處理更大的樣品。該 3D 光學量測系統(tǒng)由 ZDot 技術(shù)及多模式光學組件提供支持，可支持各種樣品測量：透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙表面，以及從納米到厘米范圍的臺階高度。
Zeta-300臺式光學輪廓儀將六種不同的光學量測技術(shù)集成到一個可靈活配置且易于使用的系統(tǒng)中。ZDot測量模式同時收集高分辨率的3D掃描信息和樣品表面真彩色圖像。其他3D測量技術(shù)包括白光干涉測量法、諾馬斯基光干涉對比顯微法和剪切干涉測量法，膜厚測量包含使用ZDot模式測量和光譜反射的測量方法。Zeta-300 也是一款顯微鏡，可用于抽樣檢查或缺陷自動檢測。Zeta-300 3D 輪廓儀通過提供全面的臺階高度、粗糙度及薄膜厚度測量以及缺陷檢測功能，來支持研發(fā) (R&D) 和生產(chǎn)環(huán)境。
特征
配合ZDot及多模式光學組件，光學輪廓儀可以容易地實現(xiàn)各種各樣的應用
用于抽樣檢查和缺陷檢測的高質(zhì)量顯微鏡
ZDot：同時收集高分辨率的3D掃描掃描信息和樣品表面真彩色圖像
ZXI：采用z方向高分辨率的廣域測量白光干涉儀
ZIC：圖像對比度增強，可實現(xiàn)亞納米級粗糙度表面的定量分析
ZSI：z方向高分辨率
圖像的剪切干涉測量法
ZFT：通過集成式寬頻反射測量法測量薄膜厚度和反射率
AOI：自動光學檢測，可量化樣品缺陷
生產(chǎn)能力：具有多點量測和圖形識別功能的全自動測量
應用
臺階高度：從納米級到毫米級的3D 臺階高度
表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波紋度測試
翹曲：2D或3D翹曲
應力：2D或3D薄膜應力
薄膜厚度：透明薄膜厚度由 30nm 至 100µm 不等
缺陷檢測：捕獲大于 1µm 的缺陷
缺陷表征：KLARF 文件可用于尋找缺陷，以確定劃痕缺陷位置，測量缺陷3D表面形貌
行業(yè) 發(fā)光二極管 (LED)：
發(fā)光二極管和 PSS（圖形化的藍寶石襯底）
半導體和化合物半導體
半導體 WLCSP（晶圓級芯片封裝）
半導體 FOWLP（扇出晶圓級封裝）
PCB（印刷電路板）和柔性印刷電路板
MEMS：微機電系統(tǒng)
醫(yī)療器械和微流體器件
數(shù)據(jù)存儲
大學、研究實驗室和研究所
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