方脈沖熱源法測量系統(tǒng)(SPS)
- 公司名稱 上海昊量光電設備有限公司
- 品牌 昊量光電
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/12/8 14:33:28
- 訪問次數(shù) 188
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上海昊量光電設備有限公司
Aunion Tech Co., Ltd
專業(yè)源自專注 專注成就未來
自2008年成立以來，昊量光電專注于光電領域的技術服務與產品經(jīng)銷，致力于引進guo外*先進性與創(chuàng)新性的光電技術與可靠產品，為國內Z前沿的科研與工業(yè)領域提供優(yōu)質的產品與服務，助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前，昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家光電產品制造商建立了緊密的合作關系。其代理品牌均處于相關領域的發(fā)展前沿，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、精密光學元件等，所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究與國防等。
昊量光電堅持“專業(yè)源自專注，專注成就未來”的經(jīng)營理念。近年來，我們專注于前沿的細分市場，為量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進激光制造等領域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。
作為一家以技術溝通與技術服務見長的高科技企業(yè)，我們所有的銷售與技術服務團隊成員都具有理工科方面的專業(yè)背景，并在公司接受相關領域的專業(yè)培訓，在售前技術溝通、售后產品安裝培訓、產品問題解決、軟硬件增值服務等方面為客戶提供更加專業(yè)化的服務！我們專業(yè)高效的商務與物流部門憑借多年積累的貿易經(jīng)驗與規(guī)范化的制度流程，保障每一筆訂貨準時安全到達目的地，免除客戶的后顧之憂！
秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價值觀，昊量光電堅持以誠信為基石，憑借高效的運營機制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價值，實現(xiàn)各方共贏！
立足于光電產業(yè)，昊量光電始終堅持價值創(chuàng)造與創(chuàng)新，贏得客戶與合作伙伴的認可，不斷拓展業(yè)務領域的新邊疆，立志打造的代理服務品牌！
激光器調制器,激光測量加工設備,光學部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統(tǒng)掃描系統(tǒng),探測器光子計數(shù)器,專用實驗設備,相機
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池,綜合 |
|---|
方脈沖熱源法（Square-Pulsed Source method, SPS）適用于亞毫米級樣品的綜合熱物性測量，能夠同時測量各向同性材料的熱導率和比熱容、三維各向異性熱導率張量，以及半導體異質結構的薄膜熱導率、比熱容和界面熱阻。
方脈沖熱源法測量系統(tǒng)(SPS)主要應用：
亞毫米級樣品的綜合熱物性測量
同時測量各向同性材料的熱導率和比熱容
三維各向異性熱導率張量
半導體異質結構的薄膜熱導率、比熱容和界面熱阻
方脈沖熱源法測量系統(tǒng)(SPS)特點和優(yōu)勢：
同時在時間域和頻率域上測量
同時測量熱導率和比熱容
表征三維各向異性熱導率張量
測量操作靈活簡便
方脈沖熱源法測量系統(tǒng) (SPS)系統(tǒng)簡介
在微米及更小尺度下，材料的熱傳導和能量傳遞機制發(fā)生顯著變化，尤其是熱導率、比熱容和界面熱阻等熱物性參數(shù)的變化，這對新材料的熱管理和性能優(yōu)化提出了更高的要求。隨著薄膜材料和小尺寸組件在微電子、半導體、光電器件及能源領域的廣泛應用，精確測量這些材料的熱物性變得尤為重要。然而，傳統(tǒng)的宏觀尺度熱物性測量方法難以有效應用于這些微納米尺度的材料。
基于方脈沖熱源法（Square-Pulsed Source method, SPS）的測量系統(tǒng)，利用激光的泵浦-探測熱反射技術，不僅能夠同時測量微米薄膜和塊體材料的熱導率和比熱容，還能表征三維各向異性熱導率張量，測量半導體異質結界面熱阻，準確測量納米薄膜的熱導率，甚至實現(xiàn)亞毫米空間分辨的局部對流換熱系數(shù)測量。這為材料設計、性能優(yōu)化以及熱管理策略的制定提供了更加全面的技術支持。
方脈沖熱源法測量系統(tǒng) (SPS)測量原理
方脈沖熱源法（Square-Pulsed Source method, SPS）采用激光的泵浦-探測技術，待測的樣品表面鍍有約100 nm厚的金屬膜作為溫度傳感層，泵浦激光經(jīng)過50%占空比的方波調制后聚焦在樣品表面，對其進行周期性加熱；探測激光一部分作為參考信號直接進入平衡光電探測器，另一部分聚焦在樣品表面加熱樣品和探測表面溫度。在溫升低于10 K的情況下，金屬膜反射率與溫度變化呈線性關系。樣品表面金屬膜反射激光的光強變化通過光電探測器轉換為電信號，并傳輸給周期波形分析儀（PWA），以獲得方波加熱周期下樣品表面溫度變化的幅值響應信號，幅值信號經(jīng)歸一化處理并與傳熱模型擬合，從而獲取樣品的熱物性參數(shù)。
圖1 SPS系統(tǒng)原理圖和樣品結構示意圖
方脈沖熱源法測量系統(tǒng) (SPS)系統(tǒng)配置:
1.可同時實現(xiàn)方脈沖熱源法(SPS)、空間域熱反射法(SDTR)、穩(wěn)態(tài)熱反射法(SSTR)的測量
2.雙色泵浦-探測系統(tǒng)，標配的泵浦光波長458nm，功率200 mW，探測光波長為785nm
3.泵浦光調制頻率的范圍為:1Hz-20 MHz
4.光斑半徑可變范圍:1-40 um
5.ccd顯微成像系統(tǒng)清楚觀察樣品表面和光斑位
6.自動化實驗測量，全程軟件操作，無需復雜的手動調節(jié)
7.自動化信號分析處理，可同時擬合多組信號獲取多個參數(shù)，并計算測量誤差
圖2. SPS技術對一系列標準樣品的熱導率和比熱容的測量結果與文獻參考值的比較
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