SparkCMOS 8000 全譜火花直讀光譜儀
- 公司名稱 鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
- 品牌 鋼研納克/NCS
- 型號 SparkCMOS 8000
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/11/5 14:32:31
- 訪問次數(shù) 76
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| 激發(fā)方式 | 火花 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 檢測器類 | 電荷耦合元件（CCD） | 儀器種類 | 臺式 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
SparkCMOS 8000 型全譜火花直讀光譜儀儀器參數(shù)
電源要求:220V±10%，單相，10A，2.5KVA。
重量:100kg
檢測器靈敏度
高靈敏度 CMOS 檢測器，精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量線性度好，圖像滯后小，工作頻率范圍寬，可在1~10MHz 下工作。
萬級超凈環(huán)境下打造光學系統(tǒng)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)羅蘭一體化光學系統(tǒng)，無像差，分辨率均勻，高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm，刻線為2700條/mm，波長范圍:130-800nm，譜線分辨率: 一級線色散率0.7407nm/mm，可分析基體配置 不小于8種。
啟動便捷，成本大幅降低
光室： 有環(huán)境溫度自動補償功能，使儀器始終保持良好狀態(tài)。潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(關(guān)機12小時)啟動只需 30min，熱機啟動時間5min，智能判斷分 析間隔時間，合理補充氣，降低氣消耗60ml/min 低待機流量，一瓶氬氣 24 小時待機 70 天。
分片式曝光，痕量元素識別強度大幅提高，檢出限更低
一次激發(fā)，分片曝光，同時采集，同時回數(shù)，獨立控制不同CMOS的積分曝光時間，提升痕量元素的強度，降低儀器的檢出限，隨波段調(diào)節(jié)積分時間，提升儀器的穩(wěn)定性。
SparkCMOS 8000 型全譜火花直讀光譜儀儀器特點
1. 萬級超凈環(huán)境下打造的高分辨大色散光學系統(tǒng)，采用全息光柵，光柵焦距500mm，譜線范圍更寬，分辨率更高，可分析N、Li、Na等。
2. 采用高分辨率線陣CMOS檢測器，集成性更高、讀取速度更快、功耗更低、長期穩(wěn)定性更高。
3. 全數(shù)字高穩(wěn)定性激發(fā)光源，頻率可高達1000Hz，對不同的材質(zhì)可以匹配不同的光源條件實現(xiàn)優(yōu)良的分析結(jié)果。
4. 全新的整體恒溫屏蔽技術(shù)，溫度控制精度±0.1℃，加熱均勻、穩(wěn)定，隔絕環(huán)境溫度影響，保證光學系統(tǒng)穩(wěn)定。
5. 智能的潮汐式?jīng)_洗技術(shù)，冷機啟動時間縮短至30min，大大節(jié)省了等待時間，提高了整體運營效率。智能判斷分析間隔時間，合理補充氣，降低氣消耗大大降低運行成本。
6. 一體化的透鏡隔離閥，自動隔斷激發(fā)臺與光學系統(tǒng)，以防止因日常維護導(dǎo)致的光室污染造成強度下降，且可以避免誤操作引起的光學系統(tǒng)污染。
7. 同軸自旋式氣路激發(fā)臺，具有自旋氣路，激發(fā)充分，激發(fā)千次無需清理，大幅度減輕工作量。
8. 創(chuàng)新的曲線智能跳轉(zhuǎn)技術(shù)，拓寬同一分析程序下分析元素范圍。根據(jù)樣品的分析值在后臺智能選擇分析譜線，提高分析元素準確性和穩(wěn)定性。
9. 功能強大的軟件系統(tǒng)，界面設(shè)計簡潔直觀，易于操作，為用戶帶來便捷、流暢的操作體驗。
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