顯微 CT 和 3D X 射線顯微鏡的未來

X4 POSEIDON 是一款功能強(qiáng)大的微型計(jì)算機(jī)斷層掃描機(jī)，采用緊湊的臺(tái)式設(shè)計(jì)，具有落地式系統(tǒng)的功能。

顯微計(jì)算機(jī)斷層掃描（Micro-CT）又稱三維 X 射線顯微鏡（3D XRM），是一種優(yōu)良的成像技術(shù)，可為生物醫(yī)學(xué)、生命科學(xué)和材料科學(xué)提供深入的樣品三維視圖。

X4 POSEIDON - 一瞥：

• X4 POSEIDON 是優(yōu)良的高分辨率三維 X 射線成像系統(tǒng)，它建立在我們久負(fù)盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。

• X4 POSEIDON 的模塊化硬件和以用戶為中心的軟件可滿足任何分析任務(wù)的需要。得益于其旗艦技術(shù)，該系統(tǒng)在視場、放大率和速度之間實(shí)現(xiàn)了有效平衡--掃描速度快如閃電，覆蓋范圍廣，可分辨小至 2 μm 的特征。

• X4 POSEIDON 結(jié)合了兩個(gè)探測器，是有史以來第一個(gè)多視角臺(tái)式三維 X 射線顯微鏡解決方案。我們優(yōu)良的采集算法和獨(dú)特的 GEM Plus™ 功能可確保以有效方式采集每一組三維圖像。

• X4 POSEIDON 是一種無障礙的步入式系統(tǒng)，具有簡單明了的工作流程、直觀的用戶界面和多語言支持，提供易用性。

• X4 POSEIDON 只需要標(biāo)準(zhǔn)電源和實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái)，就可以安裝在任何實(shí)驗(yàn)室中，為每個(gè)人、每個(gè)地方帶來高質(zhì)量、非破壞性的三維成像！

模塊化臺(tái)式機(jī)系統(tǒng)，可持續(xù)發(fā)展

• X4 POSEIDON 是一種模塊化 X 射線臺(tái)式顯微鏡。該儀器可以根據(jù)不同的需求進(jìn)行升級(jí)，而且隨著技術(shù)的發(fā)展，還可以輕松集成新的組件。

• X4 POSEIDON 從一開始就是一個(gè)全面的微型計(jì)算機(jī)斷層掃描解決方案，具有多種高級(jí)功能增強(qiáng)用戶體驗(yàn)。

• X4 POSEIDON 的基本配置包括一個(gè)成熟的反射 X 射線源和多功能平板探測器。有了這些組件，該系統(tǒng)就能在不影響分辨率的情況下，以優(yōu)秀的視野和銳利的對比度進(jìn)行超快速掃描。

• 無論您的實(shí)驗(yàn)室是支持不同研發(fā)領(lǐng)域的多個(gè)用戶，還是支持特定的工業(yè)流程，X4 POSEIDON 都能提供全面的無損、定性和定量三維分析功能。

GEM Plus™： 成像的靈活性

• X4 POSEIDON 結(jié)合了掃描-幾何和多尺度視野技術(shù)，通過幾何放大倍率增強(qiáng)模式（GEM Plus™）為臺(tái)式機(jī)提供了很高的靈活性。

• 通過將樣品移近光源或移近探測器，可實(shí)現(xiàn)視場和分辨率的平衡。利用掃描幾何技術(shù)，探測器也可以連續(xù)移動(dòng)，從而在實(shí)現(xiàn)相同放大倍率的同時(shí)，對給定的樣品尺寸進(jìn)行理想的錐形光束利用，從而顯著提高掃描速度。

• GEM Plus™ 以 Multi-Vision 和 Best-Scan-Geometry 為基礎(chǔ)，在純分辨率、掃描速度和視場角之間實(shí)現(xiàn)了很好平衡。

多視野： 雙探測器技術(shù)實(shí)現(xiàn)快速高分辨率 3D 成像

• X4 POSEIDON 是真正的多探測器臺(tái)式 XRM 解決方案。它可以配備多功能平板探測器、科學(xué)級(jí) CMOS 探測器或兩者兼?zhèn)洌?/p>

• 在選擇滿足您需求的理想探測器時(shí)，您必須考慮視場角、分辨率和掃描速度之間的平衡。如果速度是重中之重，那么平板探測器就非常適合您的應(yīng)用。另一方面，sCMOS 探測器則是實(shí)現(xiàn)最高分辨率的理想選擇。

• 有了 X4 POSEIDON，您就不必再做選擇了--多虧了 Multi-Vision 功能，您可以兩者兼得！

• X4 POSEIDON 平臺(tái)允許現(xiàn)場升級(jí)到 Multi-Vision。