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飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>粒度儀>激光粒度儀>LT3900 激光粒度分析儀

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LT3900 激光粒度分析儀

參考價398000-488000/套
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 珠海真理光學(xué)儀器有限公司
  • 品牌linkoptik/真理光學(xué)
  • 型號LT3900
  • 所在地珠海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2025/11/26 22:21:31
  • 訪問次數(shù) 679

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時間:
創(chuàng)新:
2025-11-22
LT3900 獨(dú)特的創(chuàng)新技術(shù)及功能包括:
無衍射照明光學(xué)模組
超大角散射光增強(qiáng)技術(shù)
弱散射光抗干擾技術(shù)
后向散射角擴(kuò)展技術(shù)
折射率計(jì)算功能
通過上述技術(shù)創(chuàng)新,實(shí)現(xiàn)D50下限40nm標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以及3.5毫米玻璃微珠(游標(biāo)卡尺實(shí)測)的準(zhǔn)確測量,性能超越目前市面上所有同類產(chǎn)品。

真理光學(xué)儀器有限公司專注于Gao端顆粒表征儀器的研發(fā)和制造,產(chǎn)品涵蓋激光(衍射法)粒度分析儀、動態(tài)光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀,既有實(shí)驗(yàn)室儀器,又有在線檢測系統(tǒng)。真理光學(xué)秉持“科學(xué)態(tài)度,工匠精神”,為用戶提供世界Xian進(jìn)的Gao端產(chǎn)品和服務(wù)。

真理光學(xué)匯集了以張福根博士為代表的全國顆粒表征領(lǐng)域的頂尖人才。張福根博士現(xiàn)任本公司董事長兼首Xi科學(xué)家,還擔(dān)任全國顆粒表征及分檢與篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會副主任委員、天津大學(xué)兼職教授,曾擔(dān)任中國顆粒學(xué)會副理事長,同時也是“歐美克”字號公司的創(chuàng)始人。曾擔(dān)任英國某粒度儀器公司中國總經(jīng)理20余年的秦和義先生擔(dān)任本公司商務(wù)總經(jīng)理,中國顆粒學(xué)會青年理事潘林超博士、陳進(jìn)博士擔(dān)綱公司的研發(fā)主力。

激光(衍射法)粒度儀雖然已得到廣泛應(yīng)用,但它并不Wan美,不論是科學(xué)基礎(chǔ)方面,還是技術(shù)方案方面。真理光學(xué)的團(tuán)隊(duì)針對當(dāng)前市面上儀器存在的不足,展開了系統(tǒng)的理論研究和技術(shù)創(chuàng)新,發(fā)現(xiàn)了衍射光斑(愛里斑)的反常變化現(xiàn)象(ACAD),解釋了為什么不能測量3μm左右的聚苯乙烯微球,并給出了反常區(qū)(不能測量粒徑)的一般公式;研究了衍射儀器的測量上限和下限;研究了顆粒折射率偏差對測量結(jié)果的影響,發(fā)明了兩種根據(jù)散射光分布估算顆粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技術(shù)方案(Zhuan利),解決了前向超大角測量盲區(qū)的問題,使衍射儀器的亞微米顆粒測量水平顯著提高;提出了統(tǒng)一的反演算法(專有技術(shù)),消除了不同計(jì)算模式給出不同結(jié)果的尷尬;設(shè)計(jì)出了高達(dá)20Kfps的超高速并行數(shù)據(jù)采樣電路,使干法測量的精度不亞于濕法測量,對高速噴霧場的測量(時間)分辨率也更高。

在納米粒度及Zeta電位儀方面,真理光學(xué)提出了比相位分析法(PALS)更先進(jìn)的余弦擬合相位分析法(CF-PALS),用光纖分束取代了傳統(tǒng)的平板分束鏡分束,用光纖內(nèi)光干涉取代了自由空間干涉,使Zeta電位的測量重復(fù)性大幅度提高。

Linkoptik Instruments specializes in the development and manufacture of high-end particle characterization instruments, including laser (diffraction) particle size analyzers, dynamic light scattering nano particle size and zeta potential analyzers, and particle image analyzers, both laboratory instruments and online inspection systems. Linkoptik Instruments upholds the "scientific attitude and craftsmanship" to provide customers with the world's advanced high-end products and services.

Linkoptik Instruments has gathered the top talents in the field of particle characterization in China, represented by Dr. Fugen Zhang. Dr. Zhang is the Chairman and Chief Scientist of our company, and is also the Vice Chairman of the National Technical Committee for Particle Characterization and Sieving and Sieve Standardization, a part-time professor of Tianjin University, and the Vice Chairman of the Chinese Particle Society. Mr. Qin He Yi, who was the general manager of a particle size instrument company in China for more than 20 years, is the commercial general manager of the company, and Dr. Pan Linchao and Dr. Chen Jin, the young directors of the Chinese Particle Society, are the main R&D team of the company.

Although laser (diffraction) particle size measurement has been widely used, it is not perfect, both in terms of scientific basis and technical solutions. The team at Truth Optics has conducted systematic theoretical research and technological innovation to address the shortcomings of the current instruments on the market, discovered the phenomenon of anomalous variation of diffraction spot (Airy spot) (ACAD), explained why polystyrene microspheres around 3 μm cannot be measured, and gave a general formula for the anomalous zone (not measuring particle size); studied the upper and lower measurement limits of diffraction instruments; studied the effect of particle The influence of refractive index deviation on the measurement results was studied, and two methods for estimating the refractive index of particles based on the scattered light distribution were invented; an oblique trapezoidal window technical solution (patented) was proposed, which solved the problem of the blind area of the forward oversized angle measurement and significantly improved the submicron particle measurement level of the diffraction instrument; a unified inversion algorithm (proprietary technology) was proposed, which eliminated the embarrassment of different calculation modes giving different results; the design of The ultra-high speed parallel data sampling circuit of up to 20Kfps has been designed, which makes the accuracy of dry measurement no less than that of wet measurement, and the measurement (time) resolution of high-speed spray field is also higher.

In nanometer particle size and zeta potential measurement, Linkoptik Instruments has proposed a more advanced cosine fitted phase analysis method (CF-PALS) than PALS, replacing the traditional flat beam splitter mirror beam splitting with fiber optic beam splitting, and replacing free space interference with optical interference inside the fiber, which has greatly improved the repeatability of zeta potential measurement.




專注于顆粒(包含粉體顆粒、乳膠顆粒和液體霧滴)測試技術(shù)的研發(fā)和儀器的生產(chǎn)銷售

測量范圍 0.01-4000微米 測量時間 小于10秒
產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 分辨率 0.01微米
分散方式 干濕法分散 價格區(qū)間 50萬-60萬
儀器種類 靜態(tài)光散射 應(yīng)用領(lǐng)域 石油,能源,制藥/生物制藥
重現(xiàn)性 Dv50優(yōu)于±0.5% (NIST可溯源乳膠標(biāo)樣) 準(zhǔn)確度 Dv50優(yōu)于±0.5% (NIST可溯源乳膠標(biāo)樣)
測量池 斜置平板玻璃窗口 空間濾波方式 非針孔式偏振濾波技術(shù)

激光粒度分析儀


真理光學(xué)技術(shù)團(tuán)隊(duì)秉持一貫的科學(xué)精神和技術(shù)創(chuàng)新能力,在三十余年的顆粒表征理論研究、技術(shù)創(chuàng)新及應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上,將原先的LT3600 Plus以及LT2200技術(shù)再提升一步,隆重推出LT3900激光粒度分析儀。

LT3900 獨(dú)特的創(chuàng)新技術(shù)及功能包括:

無衍射照明光學(xué)模組

超大角散射光增強(qiáng)技術(shù)

弱散射光抗干擾技術(shù)

后向散射角擴(kuò)展技術(shù)

折射率計(jì)算功能

測試報告格式用戶自主編輯功能

AI優(yōu)化功能

數(shù)據(jù)自動備份功能(備份路徑及時間用戶可指定)

LT3900 繼續(xù)保留LT3600Plus和LT2200優(yōu)良設(shè)計(jì):

統(tǒng)一的粒度分析模型(用戶無須選擇“分析模型”)

衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補(bǔ)償修正技術(shù)

斜置測量窗口技術(shù)

光纖偏振濾波技術(shù)

單光源,避免了多光源的數(shù)據(jù)拼接困擾

全量程“一鏡到底”,無需更換透鏡

散射光采樣速率最高可達(dá)20kHz, 不漏檢任何形狀和大小的散射光信息

采用自動恒溫技術(shù)的超高穩(wěn)定固體激光光源模組,徹底克服了氦氖氣體激光器預(yù)熱時間長,使用壽命短的缺點(diǎn),極大提高了粒徑測量的重復(fù)性

完全符合激光衍射法粒度儀國際標(biāo)準(zhǔn)ISO13320 和國家標(biāo)準(zhǔn) GB/T 41949-2022

適配真理光學(xué)出品的所有進(jìn)樣裝置

LT3900 優(yōu)異性能的實(shí)測數(shù)據(jù)驗(yàn)證

被測樣品D50值從40nm到3000μm,類型有單分散乳膠球和玻璃微珠,用統(tǒng)一的反演模型(用戶無須選擇,因此無感)一鏡到底,準(zhǔn)確測量。

按照國家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 41949-2022 激光粒度儀 技術(shù)要求》對測量下限的定義和驗(yàn)證要求,單分散標(biāo)樣D50值達(dá)到40nm,參照此標(biāo)準(zhǔn)的上限達(dá)3000μm。

激光粒度分析儀

激光粒度分析儀


一種紅墨水的粒度分布 一種玻璃珠的粒度分布



LT3900 的*性總結(jié)

從10nm (D50值40nm)到4000μm(D50值3000μm),一鏡到底,準(zhǔn)確測量

重復(fù)性極好,D50的重復(fù)性偏差大多遠(yuǎn)小于1%

對任何類型的樣品,包括但不限于可溯源單分散乳膠微球標(biāo)樣、用戶的各種樣品,采用統(tǒng)一的數(shù)據(jù)分析模型,確保了測量過程的科學(xué)性


激光粒度分析儀

主機(jī)原理圖

注:* 文中關(guān)聯(lián)之專利技術(shù)為我司應(yīng)產(chǎn)品性能需要使用不限于下述部分或全部專利技術(shù),最終解釋權(quán)歸真理光學(xué)所有。真理光學(xué)為ZL201720195784.7/ZL201720374474.1/ZL201720189750.7/ZL201621332818.4/ZL201810552388.4/ZL201921219223.1/ZL201911071791.6/ZL202121718637.6/ZL202122186274.2專利權(quán)持有人。








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