全新 EVIDENT LEXT OLS5500 激光共聚焦顯微鏡，將激光掃描顯微（LSM），白光干涉測(cè)量（WLI），聚焦變化顯微（FV）三大成像技術(shù)集于一身 —— 以超高的精度和可驗(yàn)證的準(zhǔn)確度，捕捉每一處表面細(xì)節(jié)。

它正重新定義表面測(cè)量的可能性：
激光掃描顯微（LSM）與白光干涉測(cè)量（WLI）雙模式精度保障；
白光干涉測(cè)量模式下（WLI），檢測(cè)效率可最高提升40倍；
適配各類(lèi)樣品類(lèi)型與形狀，檢測(cè)更具信心。

專(zhuān)為不愿在準(zhǔn)確度與速度上妥協(xié)的研發(fā)（R&D）、質(zhì)量保證（QA）及質(zhì)量控制（QC）團(tuán)隊(duì)打造。

LEXT™ OLS5500是一款屢獲殊榮的成像平臺(tái)，融合了激光掃描顯微鏡（LSM）、白光干涉儀（WLI）和聚焦變化顯微鏡（FVM）技術(shù)。 該產(chǎn)品專(zhuān)為研發(fā)、質(zhì)量保證和質(zhì)量控制團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)，可提供精確的表面細(xì)節(jié)、可追溯的精度以確保測(cè)量的可靠性，以及直觀的用戶(hù)體驗(yàn)以簡(jiǎn)化工作流程。 由精密光學(xué)、可驗(yàn)證校準(zhǔn)和智能自動(dòng)化驅(qū)動(dòng)的可信數(shù)據(jù)，幫助實(shí)驗(yàn)室實(shí)現(xiàn)從最初發(fā)現(xiàn)到最終判定的無(wú)縫過(guò)渡。

OLS5500融合LSM、WLI和FVM三種成像技術(shù)于一體，在提供便捷操作體驗(yàn)的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)了較傳統(tǒng)激光共聚焦顯微鏡快40倍的檢測(cè)效率。它也是款為L(zhǎng)SM與WLI測(cè)量結(jié)果提供準(zhǔn)確性與重復(fù)性*雙重保障的三維光學(xué)輪廓測(cè)量設(shè)備。

測(cè)量更精準(zhǔn)，工作更安心

屢獲殊榮的 LEXT™ OLS5500融合了激光掃描顯微鏡（LSM）、白光干涉儀（WLI）和聚焦變化顯微鏡（FVM）三種技術(shù)于一體，確保清晰、準(zhǔn)確地測(cè)量樣品表面。

精準(zhǔn)表面測(cè)量的多方位成像解決方案

• LSM： 橫向分辨率，精準(zhǔn)測(cè)量粗糙紋理、微觀結(jié)構(gòu)和陡峭斜面。

• WLI： 納米級(jí)垂直精度，適合測(cè)量光滑表面、斜面和薄膜。

• FVM： 從宏觀到微觀測(cè)量全覆蓋，適用于測(cè)量需要更廣視野的大面積或不規(guī)則區(qū)域。

多種測(cè)量方法互為補(bǔ)充—可為每一種表面提供合適的成像模式。 一套系統(tǒng)覆蓋從納米級(jí)到毫米級(jí)測(cè)量、從平坦區(qū)域到陡峭斜坡測(cè)量，生成全面、真實(shí)的表面數(shù)據(jù)。