? 測試分選機功能:

? 該設(shè)備可對芯片進行常溫、高溫或低溫環(huán)境下的各項測試，是一種高度自動化，可參數(shù)化設(shè)置的芯片測試設(shè)備，在-55℃~155℃（選配175℃）的三溫測試要求下，可滿足多種不同封裝形式和尺寸大小的芯片測試需求，可支持1200W產(chǎn)品測試。

 ? 特色：

? 可進行常溫、高溫或低溫測試-55℃~155℃（選配175℃） 

? 具有ATC主動控溫功能，可支持1200W 

? 主要是對邏輯IC進行試﹙或其它測試時間較短的產(chǎn)品﹚ 

? 測試區(qū)有做8 DUT同時測試﹙1,1x2,2x4﹚ 

? 8吸嘴（2x4布局） 

? 有三個手動出料區(qū)、三個自動出料區(qū)，工程分類可以分九類

? 設(shè)備快速穩(wěn)定，并具有多重安全保護設(shè)施

? 人性化操作介面，設(shè)定調(diào)整與故障排除均十分簡易直觀

注：以上僅為一款產(chǎn)品參數(shù)，如需了解更多機型 請聯(lián)系。