便攜式測厚儀DENSOKU不同基材組合適用

便攜式測厚儀DENSOKU不同基材組合適用

自1952年成立以來，DENSOKU通過廣泛的薄膜厚度測量設備陣容，為日本表面處理行業(yè)做出了貢獻，包括作為標準測量儀器的薄膜厚度計，這些測量儀器在通產(chǎn)省的JIS標準制定中作為標準測量儀器，并在行業(yè)中開發(fā)電解薄膜厚度計。我們的目標是建立一個能夠為社會做出貢獻的公司，并創(chuàng)造人類。我們不斷努力提高自己的能力和人性，為員工創(chuàng)造幸福和公司發(fā)展。以更高的技術為目標，提供更上等的產(chǎn)品，為“客戶滿意度”服務。建立客戶和業(yè)務合作伙伴信任的公司，并持續(xù)盈利。

DENSOKU/電測的產(chǎn)品分類：
1、多點同步測量渦流膜厚計
2、熒光X射線膜厚度計
3、電解膜厚度計
4、渦流膜厚度計
5、電阻式膜厚計
6、便攜式薄膜厚度計

日本電測DENSOKU熒光X射線鍍膜測厚儀EX-851多校準曲線
日本DENSOKU熒光涂層測厚儀EX-731自動測量臺
日本電測DENSOKU熒光X射線式膜厚計COSMOS-3X
日本電測DENSOKU電解膜測厚儀 GCT-311全功能PC規(guī)范
DENSOKU電測進口電解膜測厚儀CT-6提高電流精度
日本電測儀器densoku電解式膜厚計/厚度儀/測量裝置CT-3
DENSOKU電測渦流測厚儀DMC-211配備自動拍攝模式
日本DENSOKU電測渦流測厚儀高精度晶體振蕩系統(tǒng)DS-110
電測DENSOKU電阻式涂層測厚儀0.7 秒內(nèi)測量RST-231
電測DENSOKU便攜式涂層測厚儀QNIx系列無需薄膜校準

產(chǎn)品特點

高精度測量：采用高精度恒流源，確保測量精度可達±1%，分辨率高達0.001μm。

多層鍍層分析：支持*多5層鍍層的測量條件設定，包括多層鎳鍍層的電位差分析。

智能化操作：在微軟視窗下作業(yè)，數(shù)據(jù)處理及機能性更加多樣。軟件具有電位圖顯示功能，可設定上下限值，超差時紅色警示并伴有蜂鳴報警。

數(shù)據(jù)處理與管理：可對測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計處理，包括平均值、標準差等，并可導出或打印數(shù)據(jù)，方便用戶進行質(zhì)量控制和報告生成。

非破壞式校準：具備非破壞式校準功能，可制作標準板用于校準其他測厚儀，確保測量精度的長期穩(wěn)定。

適應性強：適用于多種金屬基材（如銅、鋁、鋼等）及鍍層（如金、銀、鎳、鉻等），并能自動識別適用的電解液類型。

應用場景

廣泛應用于電鍍、陽極氧化、表面處理等行業(yè)的質(zhì)量控制及實驗室分析。它適用于多種行業(yè)，如電子元器件、五金件與緊固件、汽車零部件、珠寶與裝飾品等。

技術參數(shù)

測量范圍：0.006~300μm

*小分解能：0.001μm

本體精度：±1%

測量單位：μm, mm, mil, MI

測量面積：

A型測頭：3.4mmΦ

B型測頭：2.5mmΦ

C型測頭：1.8mmΦ

電源：AC100V

本體尺寸：W265×D215×H138mm

重量：4.5kg