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Innofocas 5um 0.2nm精度微點膜厚儀

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  深圳維爾克斯光電有限公司是國內(nèi)的進口光電代理商,代理國內(nèi)外的激光、光電、光機械類產(chǎn)品,應(yīng)用涵蓋物理與光學、化學、材料、生命科學等領(lǐng)域。我們與國內(nèi)各大高校、研究所、激光設(shè)備公司和及精密儀器公司保持著緊密的聯(lián)系,提供針對不同應(yīng)用的專業(yè)技術(shù)支持。

深圳維爾克斯光電有限公司專業(yè)代理國際品牌的激光、光電測量、光學元件和光機電產(chǎn)品,主要服務(wù)于物理與光學、化學材料、生命科學等相關(guān)領(lǐng)域。我們擁有自己的技術(shù)團隊,可為客戶提供系統(tǒng)集成、定制設(shè)計和技術(shù)服務(wù)。

我們提供的產(chǎn)品和服務(wù)主要有:量子級聯(lián)激光器、深紫外激光器、超窄線寬連續(xù)單頻激光器、超窄線寬穩(wěn)頻激光器、半導體激光管驅(qū)動器、光纖耦合激光二級管、XUV 光電探測器、近中紅外探測器、激光位敏探測器、激光功率計、波前傳感器、光束質(zhì)量分析儀、準直儀、空間光調(diào)制器(SLM)、衍射光學元件(DOE)、微透鏡陣列、反射鏡、物鏡、自由曲面透鏡、波片、立方體分光鏡、可飽和吸收鏡(SAM)、GTI 鏡、啁啾鏡、色散壓縮光柵、共振振鏡、熒光濾光片、CLBO 晶體、PPSTL晶體、激光防護鏡、太陽光模擬器,傅里葉變換紅外光譜儀、顯微鏡載物臺、顯微鏡自動化、顯微鏡光源、納米壓電平臺、主動/被動隔振臺、電動位移臺、紅外觀察儀、太赫茲源和相機、太赫茲元件和離軸拋物面鏡等。

維爾克斯光電秉承“專業(yè)、誠信、篤實”的理念,致力于服務(wù)廣大的光電企業(yè)和科研院所,為客戶提供一站式的解決方案。我


合作廠商主要包括:

美洲地區(qū):美國Dataray光斑分析儀,光束分析儀,M2儀,紅外光斑分析儀;

美國Block Engineering量子級聯(lián)激光器QCL;美國Lexitek大氣湍流相位片;

美國Optodiode光電二極管;美國CVI Laser optics反射鏡;

美國StellarNet微型光纖光譜儀,拉曼光譜儀,近紅外光譜儀;

美國Minusk隔震臺,減震平臺,精密隔振平臺,原子力顯微鏡隔振臺;

美國Stable Laser Systems超高精度法布里珀羅腔,1Hz穩(wěn)頻激光器,穩(wěn)頻激光器電子模塊;

美國Chroma公司濾光片、濾光片盒子、濾光片套裝、FISH濾光片、窄帶濾光片、拉曼濾光片;

美國RPC Photonics公司螺旋相位板、微透鏡陣列、工程散射片,工程漫射體,擴散片;

美國NOIR激光防護鏡,激光防護鏡,激光護目鏡,常用型號:ARG, EC2, YG3, DBD, YG2, FG1, DBY, ND1, YLW;

加拿大Zaber電控平移臺,線性致動器,旋轉(zhuǎn)臺,真空平移臺,內(nèi)置編碼器和驅(qū)動器的位移臺;

加拿大Sicencetech太陽光模擬器,AAA太陽光模擬器,光伏測試系統(tǒng),紅外光譜儀;

加拿大Photon etc可調(diào)諧濾波器;


亞洲地區(qū):日本西格瑪光機OptoSigma反射鏡等光學鍍膜鏡片,物鏡、分光鏡、退偏器、消色差波片、高精度電動位移平臺和高精度光學鏡架、光學組件;

日本Oxide公司266nm激光器,微片納秒激光器,波長轉(zhuǎn)換器,太赫茲晶體,激光組件;

日本Santec空間光調(diào)制器(SLM);日本Artray IngaAs 近紅外相機;

日本QD Laser緊湊型半導體激光器/Lantana™,日本涉谷光學Shibuya紫外/紅外物鏡;


歐洲地區(qū):德國Layertec飛秒激光鏡片,低色散鏡、負色散鏡、寬帶鏡、啁啾鏡、GT干涉鏡;

德國Marzhauser公司(MW)顯微鏡載物臺,手動顯微鏡平移臺;

德國BATOP可飽和吸收鏡,SESAM,太赫茲聚焦鏡,激光芯片,微芯激光器,PCA太赫茲光導天線;

德國Asphericon,光束整形器,準直平頂光模組,擴束鏡準直器,錐鏡,非球面鏡,柱面鏡,光纖準直耦合器,低像差擴束器;

德國Laservision激光護目鏡,激光防護眼鏡,激光防護玻璃,激光防護簾;

德國Alphalas光電二極管,激光器,可調(diào)諧波片,寬帶可調(diào)波片,超快探測器UPD;

德國B.Halle超寬帶消色差波片,紅外寬帶消色差波片,洛匈棱鏡,偏振分束棱鏡PBS;

德國CryLas高功率266nm連續(xù)激光器,微片納秒激光器

德國ABS顯微鏡相機,高速相機;

德國Femto Fiber布拉格光纖光柵;德國 Gitterwer衍射光柵,脈沖壓縮光柵

德國Gitterwerk脈沖壓縮光柵,透射光柵;

德國PicoLAS公司半導體激光脈沖驅(qū)動器,液晶偏振元器件;

德國 LEJ(Leistungselektronik JENA GmbH) 高性能顯微照明光源;

德國UltraFast InnovationsUFI800nm-1550nm窄帶/寬帶高色散反射鏡

瑞士Optotune EL系列液態(tài)透鏡,MR系列轉(zhuǎn)鏡和LSR激光散斑衰減器;

瑞士Arcoptix傅里葉變換紅外光譜儀;

蘇格蘭 Skylark Lasers超窄線寬單頻連續(xù)緊湊型 DPSS 激光器;

英國PRIOR顯微鏡平臺,顯微鏡載物臺,顯微鏡電動平臺,納米電動平臺,自動上片機,自動對焦系統(tǒng);

英國PowerPhotonic貝塞爾平頂光束整形器;英國Vortex濾光片;

法國Piezoconcept納米平臺,納米壓電平臺;

法國Phasics波前傳感器;法國LEUKOS超連續(xù)譜激光器,連續(xù)光源,白光激光器,微片激光器;

法國Aerodiode光纖耦合聲光調(diào)制器AOM

芬蘭Specim高光譜相機,近紅外高光譜相機,中紅外高光譜相機,遠紅外高光譜相機;

立陶宛IR Viewer紅外觀察儀/紅外相機

立陶宛WOP S波片(徑向偏振轉(zhuǎn)換片),飛秒激光微納加工系統(tǒng);

立陶宛Ekspla Femtolux 工業(yè)級可調(diào)飛秒激光器;激光二極管驅(qū)動器;

立陶宛 EKSMA OPTICS 的普克爾斯盒;


中東地區(qū):以色列Holoor公司衍射光學元件,光束整形器、勻光鏡、寬帶散射片、分束器、多焦點長焦深元件、衍射錐鏡、定制衍射元件;

以色列DUMA公司 Spoton系列激光位置測量儀,Beamon光斑分析儀,光束分析儀,激光準直儀, Autocollimator,內(nèi)調(diào)焦自準直儀,Alignmeter激光位置角度測量儀;

以色列 K&S advanced systems主動,被動隔振臺;


(其它產(chǎn)品)

美國Micromanipulator探針臺,探針臺配件;美國Fresnel Technologies菲涅爾透鏡;

美國Inphenix分布式反饋激光器, 窄線寬DFB 激光器;美國Alluxa超窄帶濾光片;

美國Double Helix Optics顯微鏡深度相機,三維相機;

美國Photonics Industries 263nm 納秒激光器;

美國TeraSense系列太赫茲源,太赫茲相機,超快太赫茲探測器;

美國Novanta旗下的劍橋CTI共振振鏡,檢流式掃描振鏡;

美國 Novanta旗下Synrad CO2激光器,美國Laser Quantum超緊湊連續(xù)激光器

德國TrinamiX紅外探測器,移動手持式光譜儀

德國EPIGAP OSA Photonics光電二極管,LED芯片,燈珠

德國Holoeye公司結(jié)構(gòu)光DOE、隨機點陣DOE

荷蘭Anteryon CP-332/CP-544激光器,非球面鏡;

瑞士Rainbow Photonics太赫茲時域光譜系統(tǒng)(1-14THz),可調(diào)諧太赫茲源,THz有機晶體;

瑞士Alpes 量子級聯(lián)激光器;比利時Xenics紅外相機;

芬蘭Emberion,英國Redwavelabs紅外探測器;



油脂分析儀,石油分析儀,激光眼鏡,光學配件

供貨周期 一個月 規(guī)格 標準品
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合 主要用途 激光光學

0.2nm精度微點膜厚儀,應(yīng)用于薄膜檢測和光學參數(shù)測量的微區(qū)域膜厚儀

Innofocas微區(qū)薄膜測量儀采用亞毫米級的小光斑,膜厚測量儀測量用的光斑直徑從5um100um。波長范圍覆蓋可見光和近紅外光(350~1000nm)以及短波紅外光(1000~1700nm)。微區(qū)薄膜測量儀測量光譜分辨率可小至0.25nm,反射率測量的精度<0.05%。微區(qū)薄膜測量儀對于測量光斑的直徑,可以提供5um10um,50um,80um100um進行選擇。膜厚測量儀主要測量的是材料表面的反射率,鍍膜的膜層厚度,以及被測材料的光學常數(shù)。Innofocas 5um 0.2nm精度微點膜厚儀

Innofocas單點膜厚儀對于膜厚的測量精度可以達到0.2nm,5um微區(qū)膜厚儀對于光學鏡片的膜厚檢測,醫(yī)療器械表面涂層,以及半導體制造中各個方面都能有較好的使用效果。微點膜厚儀對單點區(qū)域的膜厚或者光學常數(shù)的測量時間非???,5um微區(qū)膜厚儀整體的耗時小于0.1s,微區(qū)域膜厚儀可以測量的膜厚區(qū)域為15nm~100um。微區(qū)域膜厚儀自帶的平臺和位移微分頭可以容納100mm大小的樣品。


Innofocas微區(qū)薄膜測量儀主要特點:

-膜厚測量儀可選350nm~1000nm1000~1700nm測試波段。

-快速測量(小于0.1s

-膜厚測量范圍廣(15nm~100um


單點膜厚儀主要應(yīng)用:

       -科研材料測量

       -非接觸式薄膜測試

       -工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)量檢測

       -特殊的科研檢測應(yīng)用

微點膜厚儀主要參數(shù):

微點膜厚儀Micro-spot Optical Thin Film Analyzer

測量項目

反射率,膜層厚度及光學常數(shù)(n&k

光斑尺寸

5/10/50/100um

膜厚范圍

15nm~100um

測量精度

0.2nm

測量時間

單點測量時間小于0.1s

光譜范圍

350~1000nm/1000nm~1700nm

樣品尺寸

1mm~100mm

儀器重量

2.8kg

儀器尺寸

290×230×250mm

Innofocas單點膜厚儀對于目前很火的運用于鋰電池中的薄膜測量,微點膜厚儀同樣可以通過光學方式進行無接觸測量。在保證了測試的安全性的同時加快了檢測速度和檢測參數(shù)的有效性。Innofocas 5um 0.2nm精度微點膜厚儀


Innofocas 5um 0.2nm精度微點膜厚儀


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