目錄:威訊科技（集團(tuán)）有限公司>>OCS>> 粒子尺寸和形狀分布測(cè)試儀 (PSSD)
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更新時(shí)間：2026-02-10 07:48:34瀏覽次數(shù)：1942評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,綜合 |
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OCS 粒子尺寸和形狀分布測(cè)試儀（PSSD） 用于對(duì)顆粒的尺寸和形狀分布進(jìn)行快速分析和分級(jí)，同時(shí)對(duì)物料外觀缺陷進(jìn)行快速檢測(cè)。待測(cè)物料通過振動(dòng)平臺(tái)傳送至末端以自由落體方式下落，下落過程中每個(gè)粒子都被線掃描相機(jī)捕捉并對(duì)其外形尺寸進(jìn)行分析，可檢測(cè)的外觀缺陷包括大粒、小粒、聯(lián)粒、拖尾、絲發(fā)、碎屑/粉塵等。PSSD 可以離線配置于用戶實(shí)驗(yàn)室，也可采用旁路采樣的在線配置方式，測(cè)試數(shù)據(jù)通過通訊端口輸送至控制室 DCS，用于質(zhì)量分析和控制，如監(jiān)測(cè)造粒系統(tǒng)（評(píng)估切刀的磨損程度），測(cè)量粒子重量（選配稱重系統(tǒng)）等。
可測(cè)試的原材料
■所有類型粒子
特點(diǎn)
■高速CMOS線掃描相機(jī)（單色）
■可檢測(cè)到的最小材料尺寸： 71 μm
■zui高處理量可達(dá)18 公斤/小時(shí)，根據(jù)具體材料性能差異而不同
■結(jié)果實(shí)時(shí)可視化
兼容于以下設(shè)備
■OCS 粒子黑點(diǎn)雜質(zhì)檢測(cè)儀(PS25C）
粒子尺寸和形狀分布測(cè)試儀（PSSD）
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