當(dāng)前位置:日立分析儀器(上海)有限公司>>公司動(dòng)態(tài)>>8月18日 網(wǎng)絡(luò)講堂 | X射線分析的應(yīng)用方向及RoHS檢測
8月18日 網(wǎng)絡(luò)講堂 | X射線分析的應(yīng)用方向及RoHS檢測

研討會介紹
在本次網(wǎng)絡(luò)課程中,您將了解到日立EA1400型X射線熒光分析儀的諸多解決方案及應(yīng)用。其中包括輕元素檢測,凹面樣品檢測,細(xì)小異物檢測,鍍層厚度檢測等功能。在有效提高檢測能力的同時(shí),高速自動(dòng)進(jìn)樣器也提高了檢測效率。其將幫助您在日常工作中,無論是對應(yīng)RoHS篩選或其它無損化檢測需求都能得心應(yīng)手。
會議主題:X射線分析的應(yīng)用方向及RoHS檢測
會議時(shí)間: 2022-08-18 14:00
主辦單位:日立分析儀器(上海)有限公司

掃描二維碼報(bào)名
我們的講師
潘爾超
應(yīng)用技術(shù)&實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)人
15年相關(guān)行業(yè)從業(yè)經(jīng)驗(yàn),活躍于儀器分析與第三方檢測行業(yè)。先后任職SGS、SEIKO Nano、日立分析儀器(上海)有限公司。長期從事X射線熒光檢測,XRF鍍層測厚分析,等離子發(fā)射光譜等應(yīng)用技術(shù)工作。
參會指南
一、參會條件
1、免費(fèi)報(bào)名無需任何差旅費(fèi)用只需要一臺電腦或一部手機(jī),網(wǎng)絡(luò)帶寬超過128K。
2、報(bào)告專家PPT講解將實(shí)時(shí)傳送給所有參會者,參會者也可通過文字向報(bào)告人提問,報(bào)告人在報(bào)告結(jié)束后統(tǒng)一進(jìn)行解答。
二、參會方式(手機(jī)電腦均可參會)
1、報(bào)名參會并通過審核后,您將會收到郵件通知,并在會前一天收到提醒參會的短信通知。
2、會議當(dāng)天進(jìn)入儀器信息網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)講堂首頁,點(diǎn)擊“進(jìn)入會場",填寫報(bào)名時(shí)手機(jī)號,即可登錄會場參會。



17
