為什么選擇 X-MET 光譜儀

性能

X-MET提供輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測(cè)限度低，且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。

通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測(cè)試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實(shí)證校準(zhǔn)。

操作簡(jiǎn)單

大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開始操作。

符合人體工學(xué)

X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡(jiǎn)潔、平衡性好，可供長(zhǎng)時(shí)間使用，而疲勞度低。

堅(jiān)固耐用而擁有成本低

• 符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。

• 通過MIL-STD-810G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。

• 其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測(cè)量導(dǎo)致探測(cè)器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。

高級(jí)數(shù)據(jù)管理

*靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報(bào)告輸出到U盤或個(gè)人計(jì)算機(jī)，或自動(dòng)將X-MET數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在LiveData云端。

應(yīng)用

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于材料可靠性鑒定

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于廢舊金屬回收

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于采礦

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于土壤重金屬檢測(cè)

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于合規(guī)性檢測(cè)

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于鍍層測(cè)厚

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于考古

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測(cè)

比較型號(hào)

X-MET8000 Smart

• X射線管：40kV

• 濾光片：?jiǎn)我?/p>

• 檢測(cè)器：大面積 SDD

• 高樣本溫度：400oC

• 符合 IP54 等級(jí)

• Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測(cè)器的窗戶損壞

• 校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)

• 內(nèi)置攝像頭 （可選）

X-MET8000 Optimum

• X射線管：40kV or 50kV

• 濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器

• 檢測(cè)器：大面積 SDD

• 高樣本溫度：100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)

• 符合 IP54 等級(jí)

• 可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

• 校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）

• 內(nèi)置攝像頭（可選）

• 小光班準(zhǔn)直器（可選）

• 針對(duì)所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片

X-MET8000 Expert

• X射線管：50kV

• 濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器

• 檢測(cè)器：大面積 SDD

• 高樣本溫度：100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)

• 符合 IP54 等級(jí)

• 可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

• 校準(zhǔn)方法：自動(dòng)跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（可進(jìn)行追溯）

• 內(nèi)置攝像頭

• 小光班準(zhǔn)直器 （可選)

• 針對(duì)所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片