通道與帶寬性能：配備 4 個(gè)測(cè)試通道，支持多信號(hào)同時(shí)采集，1GHz 帶寬可覆蓋多數(shù)高速數(shù)字信號(hào)與中高頻模擬信號(hào)測(cè)試場(chǎng)景，滿足多領(lǐng)域基礎(chǔ)及進(jìn)階測(cè)試需求；

采樣與捕獲能力：采樣率可達(dá) 4 GSa/s 或 5 GSa/s，結(jié)合強(qiáng)大的實(shí)時(shí)捕獲技術(shù)，能精準(zhǔn)捕捉瞬態(tài)信號(hào)與偶發(fā)異常波形，減少關(guān)鍵信號(hào)遺漏；

分析與操作設(shè)計(jì)：內(nèi)置觸發(fā)功能，可快速定位目標(biāo)信號(hào)，搭配眼圖分析工具助力信號(hào)完整性評(píng)估；緊湊機(jī)身節(jié)省空間，直觀觸控界面降低操作門檻，提升測(cè)試效率；

場(chǎng)景適配優(yōu)勢(shì)：針對(duì)電源完整性、EMI 預(yù)兼容測(cè)試及高速數(shù)字電路開(kāi)發(fā)場(chǎng)景優(yōu)化，無(wú)需額外復(fù)雜配置即可開(kāi)展測(cè)試，適配工程師日常測(cè)量需求。

電源完整性測(cè)試：用于檢測(cè)電源模塊輸出信號(hào)的穩(wěn)定性，分析電壓波動(dòng)、紋波等參數(shù)，驗(yàn)證電源系統(tǒng)性能是否符合設(shè)計(jì)要求；

EMI 預(yù)兼容測(cè)試：在產(chǎn)品研發(fā)階段提前檢測(cè)電磁干擾相關(guān)信號(hào)，捕捉潛在干擾源波形，輔助工程師優(yōu)化電路設(shè)計(jì)，降低后期合規(guī)測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)；

高速數(shù)字電路開(kāi)發(fā)：針對(duì)高速數(shù)字電路（如 PCB 板