計(jì)算機(jī)斷層掃描測量機(jī)（工業(yè)CT）

十二年來，蔡司METROTOM系列一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500很好地證明了可靠的X射線技術(shù)不再是未來的愿景。今天，您可以使用面向未來的質(zhì)量控制。

　　蔡司METROTOM 1500(第2代與第3代)中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小，新的3K檢測器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細(xì)節(jié)。

　　看得更多

　　在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測到更小的缺陷。

　　掃描更快

　　通過檢測器的不同操作模式，掃描時(shí)間可減少多達(dá)75%，同時(shí)獲得與2k檢測器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。

　　使用蔡司METROTOM輕松進(jìn)行測量

　　測量與檢驗(yàn)整體部件

　　蔡司METROTOM是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，用于測量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。

　　輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測

　　利用蔡司METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精確，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，蔡司METROTOM 獲取海量測量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。

　　直觀簡易的軟件操作

 　　僅需通過短時(shí)間的蔡司METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。通過蔡司CALYPSO和NEO軟件，您可以評估CT數(shù)據(jù)，通過蔡司PiWeb，它們可以在一個(gè)測量報(bào)告中快速合并。