目錄:北京瑞科中儀科技有限公司>>掃描電子顯微鏡>>卡爾蔡司電子顯微鏡>> EVO 18 Research掃描電子顯微鏡SEM
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更新時(shí)間：2025-10-20 08:51:42瀏覽次數(shù)：1505評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
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蔡司掃描電鏡是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。
標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口，另有用于高級(jí)形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識(shí)別解決方案可供選擇。通過升級(jí)LaB6高亮度光源將與X射線分析相關(guān)的探針電流性能提升至一個(gè)全新的水準(zhǔn)。
掃描電鏡的五象限背散射電子探測(cè)器(BSE)有助于增強(qiáng)低電壓性能及提供更豐富的形態(tài)信息。對(duì)于非導(dǎo)電樣品，電子束襯管技術(shù)可有效提高分辨率。
學(xué)術(shù)和研究機(jī)構(gòu)使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)，具有處理多種材料的能力。結(jié)合SmartSEM 軟件的易用性，使其成為多種研究應(yīng)用的合適之選，范圍涵蓋半導(dǎo)體和電子技術(shù)、地質(zhì)科學(xué)及材料研究。
特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)
• 業(yè)內(nèi)先進(jìn)的X射線幾何結(jié)構(gòu)以及標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS & WDS)
• 五象限背散射電子探測(cè)器(BSE)為您提供更豐富的形態(tài)信息
• 可變電壓功能用于分析較少制備的非接觸式樣品
• 可移動(dòng)的顯微鏡樣品臺(tái)用于觀察大型樣品
• 配備鎢光源和可供選擇的LaB6 光源
• 優(yōu)質(zhì)的生產(chǎn)工藝，曾榮獲2011年英國(guó)*佳電子電氣工廠獎(jiǎng)以及歐特克產(chǎn)品與工藝大獎(jiǎng)
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