越來越多發(fā)表的科學文獻證明了QSense®技術的可靠性。
該技術的核心是石英晶體在負載電壓下以一個特定頻率振蕩。當晶體表面上的質量發(fā)生改變時，晶體的振蕩共振頻率也會隨之變化。通過這種方法，可以在納克級靈敏度上測定界面質量和結構變化。該方法可實時、無需標記地測量任何可形成薄膜的材料表面。
QSense®可以測量質量變化，還可以同時測量耗散因子，從而提供薄膜的結構和粘彈性信息。它可以提供諸如吸附膜的分子厚度、結構、含水量等信息。此外還可以檢測反應前、進行中和結束后的表面吸附層的變化。
金屬、聚合物、化學改性表面，只要能在芯片表面上鋪展成薄膜的材料，都可以成為我們的定制芯片涂層。
提供商 |
瑞典百歐林科技有限公司 | 下載次數(shù) |
1次 |
資料大小 |
4MB | 資料類型 |
PDF 文件 |
資料圖片 |
-- | 瀏覽次數(shù) |
642次 |
3
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務