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詳細(xì)介紹
DECTRIS EIGER2 R光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
1、產(chǎn)品特點(diǎn)：
在DECTRIS公司所有應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室的探測(cè)器產(chǎn)品系列中，EIGER2 R系列探測(cè)器結(jié)合了所有混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的*技術(shù)。 它所具有的雙能量識(shí)別有助于在微弱信號(hào)和長(zhǎng)時(shí)間曝光的條件下進(jìn)行背景抑制和提高信噪比。其*的計(jì)數(shù)率性能可以準(zhǔn)確地測(cè)量*強(qiáng)度的X射線。利用該系列探測(cè)器的巨大動(dòng)態(tài)范圍，可以在零死時(shí)間同步讀/寫的狀態(tài)下進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間曝光。由于具備可選擇的真空兼容性，從而使空氣和窗口所產(chǎn)生的吸收和散射小化。小尺寸像素與X射線直接探測(cè)相結(jié)合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以進(jìn)行精細(xì)地測(cè)量樣品并具有寬泛的倒易空間?？梢栽谌N不同的型號(hào)中進(jìn)行選擇以滿足您的需求。
2、核心優(yōu)勢(shì)：
– 雙能識(shí)別有助于抑制低能量和高能量的背景
– 由于零背景噪音和同時(shí)讀寫，所以具有很高的動(dòng)態(tài)范圍
– 小尺寸像素和*的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)有助于獲得高的空間分辨率
– 可定制在真空環(huán)境下使用；
– 免維護(hù)
3、應(yīng)用領(lǐng)域：
- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；
- 大分子晶體學(xué)（MX）；
- 化學(xué)結(jié)晶學(xué)；
- 單晶衍射（SCD）；
- 粉末衍射（PD）；
- X射線成像；
- 表面衍射；
- 漫散射。
4、技術(shù)參數(shù)：
EIGER2 R | 250K | 500K | 1M | 4M |
探測(cè)器模塊數(shù)量 | 1 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面積：寬x高 [mm2] | 38.4 x 38.4 | 77.2 x 38.6 | 77.1 x 79.7 | 155.1 X 162.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | |||
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) | 1 pixel | |||
能量閾值 | 2 | |||
閾值范圍（KeV） | 3.5-30 | |||
大計(jì)數(shù)率（cps/mm2） | 6.9×108 | |||
計(jì)數(shù)器深度（bit/threshold） | 2×16 | |||
大幀速率 [Hz] | 50 | 50 | 100 | 20 |
采集模式 | 同時(shí)讀/寫，死區(qū)時(shí)間為零 | |||
圖像位深度（bit） | 32 | |||
可選真空兼容 | Yes | |||
冷卻方式 | 風(fēng)冷 | 風(fēng)冷 | 水冷 | 水冷 |
尺寸（WHD）[mm3] | 100 x 140 x 93 | 100 x 140 x 93 | 114 x 133 x 240 | 235 x 235 x 372 |
重量 [kg] | 1.8 | 1.8 | 4.7 | 15 |
DECTRIS EIGER2 R光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
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