bruker原子力顯微鏡，即afm（Atomic Force Microscope）是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器?？梢栽诖髿夂鸵后w環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。
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