全反射X射線熒光技術(shù)(TXRF)是能量色散型X射線熒光(EDXRF)技術(shù)的變體，是一種相對較新的材料表征技術(shù)。與EDXRF相比，TXRF的幾何改進(jìn)導(dǎo)致檢測極限提高了幾個數(shù)量級。 TXRF主要用于三類應(yīng)用：痕量元素分析，微觀分析和深度剖析。 TXRFzui有吸引力的特點(diǎn)是其在核科學(xué)與技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用，因為分析所需的樣品量非常少，所以產(chǎn)生的放射性廢物少，工作人員接觸的劑量也小。此外，低檢測限、多元素分析能力以及金屬和非金屬元素的分析使得這種技術(shù)對于核材料的表征具有很大優(yōu)勢?；谏鲜鎏攸c(diǎn)，印度巴巴原子研究中心(BARC) 燃料化學(xué)部門于2003年安裝TXRF光譜儀，至今已經(jīng)有多項研究使用此儀器對不同的核材料進(jìn)行了表征。
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