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貨物所在地：山東青島市
更新時間：2025-10-25 21:00:07
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產(chǎn)品介紹
全新的FX系列，使用CMOS探測器有效提高靈敏度。每秒4500張的圖譜獲得速度，以及強化的模塊通訊集成了以太網(wǎng)以及WiFi，全新的光譜儀在UV-VIS波段響應更加靈敏，更快的分析速度在食品的分類揀選及流程、生物科學等行業(yè)表現(xiàn)更加優(yōu)秀。
產(chǎn)品特征及優(yōu)勢
| 特征 | 優(yōu)勢 | 應用 |
| CMOS 檢測器 | 光譜覆蓋200-1100nm 而且在UV段靈敏度更高 | • 生物醫(yī)學（比如：DNA檢測） • UV段氣體檢測 |
| 高速度采集 | 更短時間、更快速度獲取光譜 | • 食品篩選與過程監(jiān)控 • 動力學檢測 • 激光器檢測（脈沖模式） • 高強度等離子體檢測 • 瞬時采集 • 產(chǎn)品生產(chǎn)過程中的監(jiān)測和質(zhì)量控制 |
| 積分時間小10μs | ||
| 緩存和時間戳 | 板載50，000張光譜緩存 確保整個動力學測試過程不會丟失數(shù)據(jù) | • 細胞中酶反應化學動力學 • 藥物合成中的反應動力學 |
| 多通訊模式 | 以太網(wǎng)，Wi-Fi，Type-C多通訊模式 | • 遠程監(jiān)控 • 手持化設備 • 過程應用 |
產(chǎn)品參數(shù)
| 光譜范圍 | 200-1100nm（可在該范圍內(nèi)進行配置） |
| 可選配置 | UV-Vis (200-850 nm) w/25 μm slit |
| Vis-NIR (350-1000 nm) w/25 μm slit | |
| 寬光譜范圍(200-1025 nm) w/25 μm slit | |
| 光學分辨率 | 0.8nm(FWHM)，基于配置:600刻線光柵以及5μm狹縫 |
| SNR（單次掃描） | ~300:1 |
| 動態(tài)范圍（單次掃描） | ~6400:1 |
| 積分時間 | 10 μs-10 s |
| 掃描速度（大） | 4500 scans/s* 掃描速度取決于很多因素，包括計算機硬件的性能以及操作系統(tǒng)的區(qū)別。 |
| 熱穩(wěn)定性 | 0.11 pixels/℃ |
| 狹縫 | 5,10,50,100 或 200μm狹縫 |
| SMA 905 或 FC |
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