關鍵詞：超高溫，介電溫譜，阻抗
CGJDN-1200型超高溫介電溫譜儀是一款提供超高溫環(huán)境的高溫介電溫譜儀，該儀器采用紅外鍍金聚焦爐或電加熱技術, 雙屏蔽高頻測試線纜、抗電網(wǎng)諧波模塊，確保高頻弱信號測量穩(wěn)定性. 支持4個樣品同步測量，提升效率, 可疊加0–5000V直流高壓，研究材料在外電場下的性能變化,是目前高校和研究所研究材料的重要設備。
主要測試指標：
1、 Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc；
2、 高低溫介電測試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能測試與分析，可測試以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時計算獲得反應材料介電性能的復介電常數(shù)和介電損耗參數(shù)。
3、 系統(tǒng)操作簡單、方便，可靈活定制測試項目。測試材料的介電頻譜、阻抗頻譜、介電溫譜、阻抗溫譜、導納譜、cole-cole圖以及C-V特性。
一、核心組成與工作原理
系統(tǒng)架構
高溫測試平臺：提供高溫環(huán)境（室溫至1200℃），采用紅外鍍金聚焦爐或電加熱技術，控溫精度可達±0.1℃。
測試夾具：三電極法設計，鉑銥合金或氧化鋁-鉑金復合探針，支持真空氣氛環(huán)境測試，減少寄生電容干擾。.
阻抗分析儀：頻率范圍10Hz–50MHz，精度0.05%，支持復阻抗譜（Cole-Cole圖）及機電耦合系數(shù)分析。
控制軟件：集成Labview系統(tǒng)，支持介電溫譜/頻譜、升溫程序（勻速/階梯/循環(huán)）、數(shù)據(jù)自動保存與異常保護。
關鍵技術
抗干擾設計：雙屏蔽高頻測試線纜、抗電網(wǎng)諧波模塊，確保高頻弱信號測量穩(wěn)定性1
多通道測試：支持4個樣品同步測量，提升效率410。
高壓擴展：部分型號（如GWGYJD-1000W）可疊加0–5000V直流高壓，研究材料在外電場下的性能變化
主要技術參數(shù)：
1、探針臺外形尺寸：180*160*35mm±5mm；樣品臺可固定在光學平臺上，溫度控制器通過網(wǎng)線和計算機聯(lián)絡；
2、探針要求：鎢鋼鍍金探針，可滿足高溫下的介電溫譜測試;
3、冷熱方式：電阻加熱；
4、溫控范圍：RT~1200℃；
5、溫度穩(wěn)定性：使用溫度<1000℃時，溫度精度±0.1℃，且使用溫度≥1000℃時溫度精度±0.5℃;
6、溫度分辨率：0.01℃；
7、升降溫速率：全溫度區(qū)間0~30℃/min（可定點/程序段控溫）
8、溫控方式：PID；
9、溫度傳感器：熱電偶；
10、視窗材質：石英玻璃（可手動拆卸更換）；
11、視窗尺寸：φ25mm；
12、探針：固定式探針*5；
13、探針接口：BNC*5；
14、樣品臺尺寸：35*35mm；
15、樣品臺材質：陶瓷；
16、樣品腔高度：≥6mm；
17、腔室：氣密腔室；
18、外殼冷卻：循環(huán)水。
19、適配介電溫譜測試系統(tǒng)（4通道）；提供4通道介電溫譜測試軟件；
19.1、測試系統(tǒng)需自帶校準程序，在電腦端操作控制探針臺升降溫速率，目標溫度，可分段控制升溫速率，具備即時記錄溫度點。
19.2、多頻率同時采集，操作簡單，所有測試結果實時保存，測試過程曲線繪制。
19.3、測試頻率：20Hz—2MHz；
19.4、測試激勵電平：0至2Vrms/0至20mArms；
19.5、測試指標：Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc；
19.6、測試精度：0.05%；
19.7、測量時間：12ms(SHORT),118ms(MED),343ms(LONG)@1MHz；
19.8、支持ALC自動電平控制；
19.9、可支持201點的掃頻測量，可編程，可任意設置頻率，測量范圍以及激勵條件并自動繪制顯示阻抗隨頻率變化曲線；
19.10、支持線纜夾具補償校準以及電纜延長補償功能。
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