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JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀簡介

閱讀:26      發(fā)布時間:2025-09-23
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JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀

(一) JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀簡介

  JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀為用于金屬材料的電阻可視化檢測設(shè)計,由于銀、銅、金、鋁等具有較好導(dǎo)電性,這些金屬材料在日常使用體積范圍時其電阻值就已經(jīng)很低,通過下圖可對其有簡單概念,當(dāng)金屬材料為長度10cm絲材時,1mΩ材料電阻值對應(yīng)的材料截面積(圖中數(shù)值為直徑,單位mm)示意圖:

JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀.png


當(dāng)材料導(dǎo)電截面積更大時電阻值更低,測試儀主要針對這類低電阻測試進(jìn)行優(yōu)化,對純金屬及其合金材料的導(dǎo)電性(電阻/電阻率/電導(dǎo)率)、進(jìn)行高精度、連續(xù)監(jiān)測,并在此基礎(chǔ)上對電阻溫度系數(shù)(電阻-溫度關(guān)系)、 電阻應(yīng)變靈敏系數(shù)(電阻-力關(guān)系)、接觸壓力-接觸電阻關(guān)系等衍生出不同用途的測量系統(tǒng)。測試系統(tǒng)由實驗架臺(或夾具)、測試機(jī)箱、計算機(jī)、測控軟件等組成

JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀1.png


測試儀測量范圍能到MΩ,也可用于部分半導(dǎo)體材料的測量。測量對象包括純金屬或合金的絲材、帶材、管材、片材等具有規(guī)則截面積的導(dǎo)體或半導(dǎo)體,樣品也包括厚膜及薄膜導(dǎo)電膜,及可使用四端點測試夾具的半導(dǎo)體塊體材料。

  由于電阻率是材料的基本屬性,與材料純度有緊密關(guān)系,除用于導(dǎo)電性測量外,也可以做為材料純度的物理判定手段之一。是目前金屬材料研究的科研設(shè)備

配用夾具

絲帶材檢測夾具:用于直徑1mm以下的細(xì)絲及窄薄帶材測量,夾頭鍍金,檢測長度可調(diào),樣品快速裝夾絲帶材檢測夾具:用于直徑1mm以下的細(xì)絲及窄薄帶材測量,夾頭鍍金,檢測長度可調(diào),樣品快速裝夾

細(xì)絲檢測夾具:用于直徑0.1mm以下的超細(xì)絲測量,夾頭鍍金,檢測長度固定,樣品快速裝夾

四探針檢測頭:單邊線四探針檢測探頭,間距1mm,用于薄膜、厚膜及半導(dǎo)體電阻率測量

帶材檢測夾具:用于厚1mm、寬20mm以下的帶材測量,檢測長度固定,夾頭鍍金,檢測長度可調(diào),快速裝夾配用軟件

(二)參考標(biāo)準(zhǔn):

 GB/T 351-2019 金屬材料電阻率測量方法

 GB/T 6146-2010 精密電阻合金電阻率測試方法
 GB/T 3048.2-2007 電線電纜電性能試驗方法 第2部分:金屬材料電阻率試驗

(三)主要特點

1. 四線法電阻測試,消除接觸電阻和引線電阻誤差

2. 軟件同步顯示檢測輸出時基曲線,測試效果一目了然

3. 高精度恒流源,帶最大電流限制,避免自熱效應(yīng),保障測量精度

4. 軟件中可同時進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理,結(jié)果可打印,數(shù)據(jù)可導(dǎo)出

(四) 主要技術(shù)指標(biāo)

技術(shù)指標(biāo)

技術(shù)參數(shù)

測試通道數(shù):

1

測量模式:

四端點測量/恒流源

電阻量程:

2MΩ-2mΩ(十倍率),400uΩ

電阻分辨率:

0.001uΩ (@400uΩ)

測試精度:

±0.1%

最高輸出電壓:

9V DC

供電電源:

220V ±10%/50Hz

最大功耗:

60W

(四)金屬導(dǎo)電性

金屬材料由于晶格間具有可自由移動的電子,均具有良好的導(dǎo)電性能,按照導(dǎo)電性能排序,一些常用材料的參數(shù)如下表:

材料名稱

符號

電阻率(μΩ.cm

電阻溫度系數(shù)(1/

熔點(℃)

沸點()

密度(g/cm3)

Ag

1.59

0.0038

961

2210

10.49

Cu

1.67

0.0039

1083

2959

8.96

Au

2.35

0.0032

1063

2970

19.32

Al

2.65

0.0043

660

2450

2.7

Zn

5.92

0.0042

420

906

7.13

Fe

9.71

0.0065

1537

3000

7.87

Pt

10.6

0.0039

1769

4530

21.45

Sn

11.0

0.0047

232

2270

7.3

Ti

42.0

0.0041

1668

3260

4.51

錳銅

Cu85Mn12Ni2

48.2

0.000002

-

-

-

康銅

Cu55Ni45

49

0.00003

-

-

-

鎳鉻

Fe45Ni35Cr20

100

0.0004

-

-

-

金鈀鐵鋁

AuPdFeAl

216

-0.000014

-

-

-

碳(高純)

C

3500

-0.0005

3727

4830

2.25

鍺(高純)

Ge

0.6 Ω.m

-0.048

937

2830

5.323

硅(高純)

Si

2300 Ω.m

-0.075

1410

4830

2.25

* 主要數(shù)據(jù)來源《二元合金狀態(tài)圖集》《貴金屬》等,環(huán)境溫度為20℃

電阻率計算

電阻率為材料的固有特性之一,絲材或截面積均勻的金屬可以利用下面的公式計算電阻/電阻率:                                

a4f32a7e-ea5b-4394-8845-33df792e609e.png

軟件幾個主要界面,雙擊可顯示原圖。

JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀3.png

JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀4.png


(五) 相關(guān)資料

四端法電阻測量

  四端法也稱為四線法或開爾文法,指的是用一對導(dǎo)線連接一電流源,另一對導(dǎo)線將被測電阻的電壓引入數(shù)字多用表進(jìn)行測量,其測試原理如下圖所示

JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀5.png


Ux為對應(yīng)測試點得到的電壓信號, R1、R3、R4、R6分別為四段測量導(dǎo)線的電阻值及與樣品的接觸電阻,R2、R5為電源(I+/I-)導(dǎo)線端與測量(U+/U-)導(dǎo)線端間的樣品電阻, 由于測量端放大器輸入阻抗遠(yuǎn)大于被測電阻Rx, 而R3、R4較小,測量導(dǎo)線上的壓降可以忽略不計,R1、R2、R5、R6雖然在測試電流回路中,但測量僅以測量端為準(zhǔn),其壓降不會出現(xiàn)在測量結(jié)果中。 因而,四端法測電阻能夠消除接觸電阻和引線電阻的影響。




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