中科院上海微系統(tǒng)所定制JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付

中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所是我國(guó)著名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一，前身是成立于1928年的國(guó)立中央研究院工程研究所。自建國(guó)以來(lái)，上海微系統(tǒng)所已獲得獎(jiǎng)勵(lì)46項(xiàng)、部委省級(jí)獎(jiǎng)勵(lì)340余項(xiàng)。為國(guó)民經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國(guó)家安全和社會(huì)進(jìn)步做出了重大貢獻(xiàn)。

本次交付的產(chǎn)品為探針冷熱臺(tái)JKZC-LRT400，該冷熱臺(tái)在實(shí)驗(yàn)中主要用于高阻材料在不同溫度變化下的電學(xué)測(cè)試。

   現(xiàn)場(chǎng)交付圖

能提供從-190℃到600℃溫度范圍內(nèi)的精準(zhǔn)控制。

   現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)測(cè)試變溫電阻測(cè)試數(shù)據(jù)（二）

測(cè)試樣品為高阻材料，實(shí)驗(yàn)顯示隨溫度升高，材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中，針對(duì)客戶需求，對(duì)配套軟件進(jìn)行了定制。

包含兩種測(cè)試模式：

①RT測(cè)試：樣品電阻隨溫度變化；

②數(shù)據(jù)時(shí)間譜測(cè)試：到達(dá)設(shè)定溫度后，樣品電阻隨時(shí)間變化。

一|、冷熱臺(tái)主要技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍-196到600°C(-196℃需選擇專用冷卻系統(tǒng))

可達(dá)150°C/min加熱速率

多段溫度控制程序設(shè)定

在線溫度/時(shí)間曲線

全程溫度穩(wěn)定性和精度0.1°C

16 mm X、Y方向移動(dòng)距離

樣品區(qū)域φ22 mm

光孔直徑 2.0mm                

氣密樣品室，可以控制樣品環(huán)境   

超薄上蓋窗口 0.17 mm

可用于透射和反射光

內(nèi)蓋可以增加溫度穩(wěn)定性

樣品側(cè)面導(dǎo)入

物鏡最小工作距離4.5 mm

聚光鏡最小工作距離12.5 mm

計(jì)算機(jī)控制

冷卻劑直接冷卻加熱體

臺(tái)體尺寸- 160 x 80 x 24 mm

二、電阻主要技術(shù)參數(shù)：

• 電流分辨率達(dá)0.1fA(10-16A)

• 測(cè)量電阻高達(dá)10PΩ(1016Ω)

• 輸入阻抗>200TΩ

• 支持電壓測(cè)量達(dá)20V

• 獨(dú)立的電流和電壓測(cè)量

• 5.0寸電容式觸摸屏

• 6?位測(cè)量分辨率

• 內(nèi)置電壓源：±1000V，分辨率：700μV

• 溫度和濕度測(cè)量

• 時(shí)域視圖，捕獲瞬態(tài)信號(hào)效應(yīng)和選擇測(cè)量數(shù)據(jù)

• 支持?jǐn)?shù)據(jù)記錄

• 配置專用屏蔽測(cè)試盒

• 接口：USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、RS232、HANDLER、INTERLOCK

  
  

 主要測(cè)量應(yīng)用

變溫條件下針對(duì)

• 應(yīng)用

• 
  

• 材料特征測(cè)試

  半導(dǎo)體、納米材料、聚合物材料、介質(zhì)材料、電化學(xué)材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機(jī)材料等

• 電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測(cè)試

  電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽(yáng)能電池、開(kāi)關(guān)、繼電器等

• 電子/非電子系統(tǒng)

  離子束、電子束、傳感系統(tǒng)、粒子測(cè)量、嵌入式精密儀器等

• 半導(dǎo)體和其它器件I-V特性測(cè)量

• 體電阻/表面電阻率測(cè)量