二手掃描電鏡SEM+EDX出售:具有新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易,助力高校，第三方，藥廠，電子廠，化工企業(yè)，研究院等。

二手掃描電鏡SEM+EDX出售：
日立新推出的高分辨場發(fā)射掃描電鏡，1kv的分辨率提升到1.3nm，并在探測器設計上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號，實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測；結(jié)合選配的STEM探測器，還可以實現(xiàn)明場像和暗場像的觀測；此外在半導體應用中，還可以安裝EBIC探測器，采集感生電流圖像，極大豐富了信號的采集，對樣品的信息的收集達到了新的高度。

二手掃描電鏡SEM+EDX出售：技術(shù)特點：
1. 低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm
2. 日立的ExB設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品
3. 配置Lower、Upper和Top三個Everhart-Thornley型探測器
4. Upper和Top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像
5. 可以根據(jù)樣品類型和觀測要求選擇打開或關(guān)閉減速功能
6. 標配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能
7. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成 

項目	描述
SE分辨率	3.0nm (30kV)，高真空模式  10nm (3kV), 高真空模式
BSE分辨率	4.0nm (30kV)，低真空模式
放大倍率	x5 ~ x300,000
加速電壓	0.3 ~ 30 kV
低真空范圍	6 ~ 270 Pa
大樣品尺寸	直徑200mm
樣品臺	I型 II型
X	0 ~ 80mm 0 ~ 100mm
Y	0 ~ 40mm 0 ~ 50mm
Z	5 ~ 35mm 5 ~ 65mm
R	360º 360º
T	-20º~ +90º -20º ~ +90º
大樣品高度	35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm)
驅(qū)動類型	手動 五軸馬達驅(qū)動
燈絲	預對中鎢燈絲
物鏡光欄	可移動式4孔物鏡光欄
槍偏壓	固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏
檢測器	二次電子檢測器 高靈敏度半導體背散射電子檢測器
分析位置	WD=10mm, TOA=35o
控制	鼠標、鍵盤，手動旋鈕
自動調(diào)校	自動燈絲飽和、自動4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸、自動聚焦  消像散、自動亮度對比度