二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準(zhǔn)適配各類樣品，配合E×B技術(shù)實現(xiàn)SE/BSE信號自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。

一、二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡技術(shù)參數(shù)：

二次電子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)

背散射電子分辨率:3.0 nm(15 kV)
電子槍:冷場發(fā)射電子源

加速電壓:0.5~30 kV（0.1 kV/步，可變）
放大倍率:×30 ~ ×800,000。
X射線能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92。
 

 二、主要特點：
      S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡（簡稱S-4800）為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場，物鏡為半浸沒式。在高加速電壓（15kV）下，S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm，這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達(dá)到的。該電鏡在低加速電壓（1kV）下的二次電子圖像分辨率為2nm，這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠贰-4800的主要附件為X射線能譜儀。利用S-4800和X射線能譜儀可以在觀察樣品表面微觀形貌的同時進(jìn)行微區(qū)成分定性和定量以及元素分布分析。此次所購X射線能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92，從而可以分析輕元素。由于S-4800不能在低真空條件下工作，因此不適合直接觀察含水和含油樣品。
  

三、應(yīng)用領(lǐng)域
  ?用于觀察材料表面的微細(xì)形貌、斷口及內(nèi)部組織，并對材料表面微區(qū)成分進(jìn)行定性和定量分析，主要用途如下：
  ? 金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機(jī)或有機(jī)固體材料的斷口、表面形貌、變形層等的觀察；
  ? 材料的相分布和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；
  ? 金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定；
  ? 納米材料及其它無機(jī)或有機(jī)固體材料的粒度觀察和分析 ；
  ? 進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析。

四、二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡主要功能：

   掃描電鏡主要利用電子束與試樣表面的相互作用產(chǎn)生的信息來觀測固體表面形貌，還能獲得晶體方位、化學(xué)成分、磁結(jié)構(gòu)、電位分布及晶體振動方面的信息、研究試樣的各種特性。