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珠海歐美克儀器有限公司

連載 | 金剛石微粉與Zeta電位:調(diào)控、測(cè)量與應(yīng)用(一)

時(shí)間:2025-12-8 閱讀:195
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官澤貴

中國顆粒學(xué)會(huì)青年理事。曾在香港浸會(huì)大學(xué)United International College從事教學(xué)與科研工作。后在全球領(lǐng)先的跨國分析儀器集團(tuán)公司從事大客戶經(jīng)理,區(qū)域市場(chǎng)經(jīng)理,Senior產(chǎn)品專家,Senior大客戶顧問等工作,具有多年分析儀器行業(yè)和實(shí)驗(yàn)室領(lǐng)域相關(guān)工作經(jīng)驗(yàn),致力于為客戶提供實(shí)驗(yàn)室分析檢測(cè)解決方案。加入馬爾文帕納科集團(tuán)后專注于顆粒表征領(lǐng)域,鉆研粉體粒度分析檢測(cè)技術(shù),非常熟悉了解客戶的測(cè)試需求和儀器應(yīng)用。在激光粒度分析儀,納米粒度分析儀、顆粒圖像分析儀、在線粒度分析儀等多種粒度分析儀器及其應(yīng)用領(lǐng)域積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)。


現(xiàn)任珠海歐美克儀器有限公司產(chǎn)品經(jīng)理。開展市場(chǎng)研究和顆粒表征技術(shù)研究工作,致力于粉體粒度分析測(cè)試前沿技術(shù)的產(chǎn)品轉(zhuǎn)化和儀器的商品化,為用戶提供可靠的高性價(jià)比儀器,在幫助工業(yè)用戶產(chǎn)業(yè)技術(shù)升級(jí)的過程中起到積極的作用。在檢測(cè)技術(shù)推廣和儀器行業(yè)應(yīng)用中為客戶提供解決方案,公司的主打產(chǎn)品激光粒度分析儀和納米粒度分析儀在工業(yè)領(lǐng)域如制藥行業(yè)、電池材料行業(yè)等成為生產(chǎn)質(zhì)控的主流儀器。同時(shí)參與技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)方面的工作,如企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的編制,代表公司參與相關(guān)的行標(biāo)、國標(biāo)的部分編制工作。


在超硬材料領(lǐng)域,金剛石微粉以其卓越的硬度、導(dǎo)熱性和化學(xué)穩(wěn)定性成為眾多高端產(chǎn)業(yè)的關(guān)鍵材料。然而,這些優(yōu)異性能的背后,卻存在著一個(gè)長(zhǎng)期困擾業(yè)界的難題——顆粒團(tuán)聚效應(yīng)。


這一難題的解決,正依賴于對(duì)Zeta電位的精確理解與調(diào)控。作為表征顆粒分散穩(wěn)定性的關(guān)鍵指標(biāo),Zeta電位已成為金剛石微粉工藝優(yōu)化與產(chǎn)品升級(jí)的核心參數(shù)之一。表面電荷行為成為提升超硬材料性能的關(guān)鍵因素。


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金剛石微粉:超硬材料的多面應(yīng)用

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金剛石微粉是指粒徑在納米至微米尺度的金剛石顆粒,這種材料被譽(yù)為材料界的“工業(yè)味精",具有電絕緣、超強(qiáng)硬度、卓越導(dǎo)熱性、極佳耐磨性以及獨(dú)特的表面化學(xué)特性。納米金剛石在聚合物復(fù)合材料的強(qiáng)度、韌性、耐磨、導(dǎo)熱、減摩等關(guān)鍵性能提升方面展現(xiàn)出巨大潛力。


基于這些優(yōu)異性能,金剛石微粉的應(yīng)用領(lǐng)域十分廣泛,涵蓋航空航天、精密電子、醫(yī)療器械、新能源汽車、半導(dǎo)體等多個(gè)高端領(lǐng)域。在航空航天領(lǐng)域,納米金剛石增強(qiáng)的復(fù)合材料用于制造輕質(zhì)高強(qiáng)的結(jié)構(gòu)件;在精密電子領(lǐng)域,它被用于導(dǎo)熱界面材料,有效解決高功率元件的散熱問題;在醫(yī)療器械中,納米金剛石因其生物相容性和耐磨性,被用作植入體材料的增強(qiáng)相;在新能源汽車上,則主要用于提高電機(jī)絕緣材料的導(dǎo)熱性能。在半導(dǎo)體領(lǐng)域,它是CMP拋光液的關(guān)鍵添加劑;在高端復(fù)合材料中,它作為功能性填料顯著提升基體材料的導(dǎo)熱性和機(jī)械強(qiáng)度。


2025年7月,由我國牽頭制定的ISO國際標(biāo)準(zhǔn)《特殊用途功能性填料 聚合物用納米金剛石》(ISO 6031:2025)正式發(fā)布,標(biāo)志著我國納米級(jí)金剛石材料產(chǎn)業(yè)實(shí)現(xiàn)了從“深耕積淀"到“引領(lǐng)國際"的歷史性跨越。該標(biāo)準(zhǔn)首次界定了納米金剛石材料的定義與類別、關(guān)鍵性能指標(biāo)與測(cè)試方法、在聚合物中的評(píng)價(jià)規(guī)范、安全與環(huán)保要求等,規(guī)定了原料純度、晶體結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵指標(biāo),確立了評(píng)估納米金剛石在聚合物基體中分散穩(wěn)定性的測(cè)試方法。


衡量金剛石微粉產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo)主要包括(不限于)以下方面:

1

粒徑及其分布:這是金剛石微粉最核心的質(zhì)量指標(biāo)之一,直接影響磨料的切削能力和加工表面質(zhì)量;

2

顆粒形狀:包括圓度、片狀顆粒比例和針棒狀顆粒含量等。與顆粒的流動(dòng)性和在基體中的填充特性相關(guān);

3

雜質(zhì)含量:金屬雜質(zhì)(如鐵、銅)及有害物質(zhì)(硫、氯)含量,尤其是石墨相和非金剛石碳的含量;

4

表面化學(xué)性質(zhì):特別是Zeta電位,決定其在分散介質(zhì)中的穩(wěn)定性。


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Zeta電位:

為何成為金剛石微粉的關(guān)鍵指標(biāo)

OMEC


Zeta電位(ζ-potential)是指顆?;瑒?dòng)面處的電位,是表征膠體體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。它反映了顆粒表面帶電狀態(tài)以及顆粒間相互作用的強(qiáng)弱,直接影響到顆粒在分散介質(zhì)中的分散性和穩(wěn)定性。


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對(duì)于金剛石微粉而言,Zeta電位之所以備受關(guān)注,根源在于其極易發(fā)生團(tuán)聚的特性。金剛石微粉的高表面能導(dǎo)致它們傾向于聚集以減少總表面積和表面能,這種團(tuán)聚現(xiàn)象會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品的性能表現(xiàn)。


例如,在聚合物復(fù)合材料中,團(tuán)聚的金剛石微粉不僅不能充分發(fā)揮其增強(qiáng)作用,反而可能成為應(yīng)力集中點(diǎn),降低材料的機(jī)械性能。高導(dǎo)熱性的金剛石微粉如果因團(tuán)聚而無法在基體中均勻分散,會(huì)大大降低復(fù)合材料的導(dǎo)熱通路,影響最終產(chǎn)品的導(dǎo)熱性能。傳統(tǒng)的金剛石表面活化方法獲得的金剛石微粉的表面活化程度非常低,表面Zeta電位值低于20mV,隨著金剛石微粉在樹脂組合物中質(zhì)量分?jǐn)?shù)的提高,樹脂組合物的黏度會(huì)急劇增加,金剛石微粉在樹脂組合物中的分散效果不佳。


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研究表明,通過表面改性使金剛石復(fù)合微粉的表面Zeta電位絕對(duì)值達(dá)到30-50mV,能夠有效抵抗分子間作用力,降低金剛石復(fù)合微粉在樹脂組合物內(nèi)的團(tuán)聚。這一數(shù)值已被認(rèn)為是實(shí)現(xiàn)良好分散的“黃金范圍"。Zeta電位絕對(duì)值大于30mV(正或負(fù))通常表明體系具有較好的穩(wěn)定性,顆粒間有較強(qiáng)的靜電斥力來抵抗范德華引力。


在表面改性技術(shù)快速發(fā)展的背景下,zeta電位是評(píng)價(jià)表面改性效果的重要指標(biāo),通過酸化、氧化或包覆處理后,zeta電位變化直接反映表面官能團(tuán)(如羥基、羧基)的引入效果。


此外,不同應(yīng)用場(chǎng)景對(duì)zeta電位有不同要求,如拋光液需高負(fù)電位(-40mV)以增強(qiáng)顆粒吸附穩(wěn)定性,而電鍍體系則需要中性或弱正電位(+10mV)來優(yōu)化鍍層均勻性。


Zeta電位已成為衡量金剛石微粉表面改性以及分散穩(wěn)定性調(diào)控手段的核心指標(biāo)。


Zeta電位測(cè)量技術(shù)

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Zeta電位的測(cè)量主要采用電泳光散射技術(shù)(ELS),核心原理是激光多普勒效應(yīng)。當(dāng)顆粒在電場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)時(shí),散射光的頻率會(huì)發(fā)生偏移,通過測(cè)量這種頻移可以確定顆粒的電泳遷移率,進(jìn)而計(jì)算Zeta電位。


目前,我國已制定了相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn),如GB/T 32671.2-2019《膠體體系 zeta電位測(cè)量方法 第2部分:光學(xué)法》,GB/Z 42353-2023《Zeta電位測(cè)定操作指南》,為Zeta電位的測(cè)量提供了標(biāo)準(zhǔn)方法。


測(cè)量Zeta電位時(shí)需要考慮多種影響因素:

1

pH值:Zeta電位通常隨pH值變化而變化,等電點(diǎn)(IEP)是指Zeta電位為零時(shí)的pH值;

2

離子強(qiáng)度:溶液中的離子會(huì)壓縮雙電層,影響Zeta電位的大小和穩(wěn)定性;

3

溫度:影響離子的遷移率和溶液的粘度,進(jìn)而影響測(cè)量結(jié)果;

4

添加劑:如分散劑、表面活性劑等會(huì)顯著改變顆粒的表面性質(zhì)。


對(duì)于金剛石微粉,其等電點(diǎn)通常位于較低的pH范圍內(nèi),因此在中性或堿性條件下往往帶有負(fù)電荷。了解這一特性對(duì)于設(shè)計(jì)穩(wěn)定的分散體系至關(guān)重要。


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NS-90Z Plus:納米粒度及Zeta電位分析的綜合解決方案

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針對(duì)納米材料粒度及Zeta電位測(cè)試需求,珠海歐美克儀器有限公司推出了NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀。這款儀器在成功引進(jìn)和吸收馬爾文帕納科納米顆粒表征技術(shù)的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步優(yōu)化了光學(xué)電子測(cè)量技術(shù)和分析性能。


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●  測(cè)量范圍*:0.3nm - 10μm (取決于樣品)

●  重復(fù)性誤差:≤ 1% (NIST可追溯膠乳標(biāo)樣)
●  最小樣品容積*:20μL

●  Zeta 電位范圍:無實(shí)際限制

▲ 歐美克NS-90Z Plus 納米粒度分析儀

(點(diǎn)擊圖片查看儀器詳情)


NS-90Z Plus采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量顆粒的粒度,使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定顆粒Zeta電位和電位分布。其粒度測(cè)試范圍達(dá)到0.3nm-10μm,能夠覆蓋絕大多數(shù)金剛石微粉的粒徑范圍。


NS-90Z Plus的創(chuàng)新之處在于其融合了馬爾文帕納科恒流模式下的M3-PALS快慢場(chǎng)混合相位檢測(cè)分析技術(shù),提升了儀器的電位分析性能。該技術(shù)成功解決了毛細(xì)管電滲對(duì)測(cè)試的影響,并且在一次測(cè)試過程中同時(shí)得到Zeta電位平均值和電位分布曲線。恒流模式能有效緩解電極極化的影響,使結(jié)果重現(xiàn)性更好,準(zhǔn)確性更高。


對(duì)于金剛石微粉行業(yè),NS-90Z Plus提供了全面的解決方案:


高精度測(cè)量能力

采用M3-PALS(相位分析光散射)技術(shù),通過快慢場(chǎng)混合模式消除電滲影響,使Zeta電位測(cè)量精度達(dá)±0.5mV,重復(fù)性可達(dá)±0.3mV。這種精度水平足以滿足甚至是最苛刻的金剛石微粉質(zhì)量控制要求。


廣泛的樣品適應(yīng)性

可分析樣品濃度最高達(dá)到40% w/v,能夠適應(yīng)不同濃度范圍的金剛石微粉樣品。


智能溫控系統(tǒng)

獨(dú)立的帕爾貼循環(huán)溫控裝置可在0-120℃范圍內(nèi)任意設(shè)定,控制精度最高可達(dá)0.1℃,保障測(cè)試結(jié)果高重現(xiàn)性。溫度穩(wěn)定性對(duì)zeta電位測(cè)量至關(guān)重要,因?yàn)闇囟茸兓瘯?huì)影響介質(zhì)的粘度和介電常數(shù),從而顯著影響測(cè)量結(jié)果。


高電導(dǎo)率適應(yīng)性

采用恒流模式支持高達(dá)260mS/cm樣品測(cè)試,克服了傳統(tǒng)電泳法在高導(dǎo)電率條件下的測(cè)量限制。這一功能對(duì)于測(cè)量經(jīng)過表面改性或在高離子強(qiáng)度介質(zhì)中使用的金剛石微粉尤為重要。


這些特性使得NS-90Z Plus成為金剛石微粉研發(fā)和質(zhì)量控制的得力工具,助力企業(yè)優(yōu)化生產(chǎn)工藝,提升產(chǎn)品質(zhì)量。


下節(jié)預(yù)告


Zeta電位調(diào)控在金剛石微粉工業(yè)中的應(yīng)用舉例:

拋光工藝中的應(yīng)用

在化學(xué)機(jī)械拋光領(lǐng)域,Zeta電位的調(diào)控發(fā)揮著關(guān)鍵作用。金剛石拋光液的性能優(yōu)化很大程度上依賴于Zeta電位的控制。針對(duì)不同的樣品材質(zhì),拋光液需要調(diào)整磨粒種類、懸浮體系特點(diǎn)和配搭的拋光盤類型。通過控制Zeta電位,可以顯著改善拋光液的穩(wěn)定性和拋光效果。

Zeta電位在表面改性評(píng)估中的應(yīng)用

Zeta電位測(cè)量在金剛石表面改性效果評(píng)估中發(fā)揮著重要作用。在金剛石微粉表面改性過程中,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)Zeta電位變化,評(píng)估改性效果并優(yōu)化工藝參數(shù)。

……



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