判斷光源質量三個重要標準：

 a)光譜匹配度

光譜匹配度的定義是模擬光在6個光譜范圍內與太陽光的匹配程度，用百分比來表示。任何數(shù)據(jù)的偏離情況就能對模擬器匹配程度的等級進行劃分。對于AA*產(chǎn)品，理想的匹配百分比范圍是0.75 到1.25。由于Pasan擁有更為優(yōu)良的濾波鏡片，使得Pasan的光源表現(xiàn)，其LMT和VLMT兩個系列的光源，已達到了A*標準，比IEC的*標準高出一倍：SM<±12.5%, IU<1%, LIT<1%,，STI<0.5%

b)輻照的均勻性

是指在指定測試區(qū)域的輻照度應達到一定的均勻度，光照均勻性是難達到和保持一項指標，工作面積上的強光點會導致被測電池效率產(chǎn)生的嚴重誤差和其他性能的紊亂。AA*產(chǎn)品就能將這種強光點對產(chǎn)品的影響降到，其空間均勻性嚴格控制于≤±2%。 大面積穩(wěn)態(tài)太陽模擬器，需要使用復雜的光學結構。太陽模擬器常用的勻光結構有兩種：一種是鏡面反射、透射為主的勻光結構，它一般采用燈陣、反射鏡，透鏡陣列等光學器件進行組合[15-16]；另一種是漫反射為主的勻光結構，主要通過封閉的漫反射環(huán)境來實現(xiàn)勻光。

 c)輻照的穩(wěn)定性

輻照穩(wěn)定度是AA*標準的第三項性能參數(shù)指標，它要求模擬器的輸出光束長時間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的性，對于輻照不穩(wěn)定度，還細分為不穩(wěn)定度（LTI）和短期不穩(wěn)定度（STI），分別對應整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。脈沖時間對于晶體硅電池而言，是*沒有影響的，因為其響應時間（response time 或者delay time）非常短，在測試儀采集數(shù)據(jù)的時候，電池早已達到飽和。但是對于染料敏化電池、非晶硅薄膜電池尤其是多結、HIT和Sunpower等其他結構的電池，其響應時間（delay time）從幾個ms到幾百個ms不等，其響應時間在取點時太陽電池是 否已經(jīng)飽和穩(wěn)定，是個必須認真考慮的問題。