日本三豐Mitutoyo粗糙度測量儀SV-3200
配有多種參數(shù)。評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。
●裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。
●標配高分辨率的Z1軸檢出器，高顯示分辨力為0.0001µm （測量范圍為8µm時）。Z1軸的高顯示分辨力為0.0001µm （測量范圍為8µm時）。

日本三豐Mitutoyo粗糙度測量儀SV-3200

 

日本三豐Mitutoyo粗糙度測量儀SV-3200

配有多種參數(shù)。 評估型表面粗糙度測量儀同時配置 分析功能。

●裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪 廓分析程序。

●標配高分辨率的Z1軸檢出器，高顯示 分辨力為0.0001µm (測量范圍為8µm時)。 Z1軸的高顯示分辨力為0.0001µm (測量 范圍為8µm時)。

●X軸驅動裝置裝配高精度玻璃光柵尺，實 現(xiàn)X軸方向移動的高精準定位。SV-3200 系列為驅動裝置采用陶瓷導軌以提高抗 磨性，延長使用壽命。

●X軸的分辨力為0.05µm。

●標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選 擇，無需考慮設備本體是否有裝配傾斜 裝置。

●裝備有可變*檢出器姿態(tài)(向上/橫向)的 支架(選件）。

●Y軸工作臺(選件)可對應3D粗糙度測量。

●驅動裝置中的DAT功能可以輕松調整測 量工件的水平。

基本技術參數(shù):

基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

基座材料:花崗巖

重量

主機:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

控制器:14kg

遙控箱:0.9kg

電源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W(主機)

注: 雖然天然石材測量桌的外觀各有不同，但材料的穩(wěn)定性是值得信賴的。

*1: 手動操作也可用。