TSI 3086型DMA差分靜電遷移分析儀
該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI 3082型靜電分級器 、 3777型納米增強(qiáng)儀 以及凝聚粒子計(jì)數(shù)器 配套使用，且該分析儀工作流程已經(jīng)被優(yōu)化，不但能夠?qū)⑸⒁輷p失降至zui低，而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑分辨率。

特點(diǎn)和優(yōu)勢

分析從1到50nm粒徑的顆粒物

SMPS（掃描電遷移粒徑譜儀）的關(guān)鍵組件 

應(yīng)用 

顆粒物粒徑測量

設(shè)計(jì)與TSI的3082型靜電分級器和TSI的3777型納米增強(qiáng)劑CPC一起使用，3086型1nm-DMA具有優(yōu)化的流路，可減少擴(kuò)散損失并提高粒徑范圍在1至50 nm范圍內(nèi)的尺寸分辨率。
特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
分析從1到50納米的粒子
SMPS系統(tǒng)的關(guān)鍵組件
應(yīng)用
粒子尺寸