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雙光束紫外可見分光光度計SDW-1901介紹
雙光束紫外可見分光光度計SDW-1901是采用全新設計的雙光束光學系統(tǒng)提供了優(yōu)異的光學性能，設計*電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和極低噪聲，主要應用在醫(yī)療衛(wèi)生，環(huán)保污水,食品飲料,化學品檢測,生物產業(yè)，石油化工，電廠等相關行業(yè)。
技術參數(shù)
顯示方式：6英寸 320×240 點陣帶背光數(shù)字 LCD
光源燈：預調德國賀利氏 DX 氘燈 歐司朗長壽命鹵鎢燈
光學系統(tǒng)：精密雙光束光學系統(tǒng)
接口：USB,RS232C串行通訊口用于接配軟件，并行打印口用于接配打印機
光譜掃描功能：主機及軟件支持
電源電壓：100V～240V 50/60±1Hz
儀器尺寸：650×450×230（mm）
溫度：5°C-40°C
濕度：≤85%
凈重：26Kg
分光光度計功能：
·全新設計的雙光束光學系統(tǒng)提供了優(yōu)異的光學性能；高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.
·設計*電路測控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和極低的噪聲.
·可拆卸結構的樣品室設計,易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.
·寬敞型開放式光源室設計,使燈源更換更加方便.
·關鍵部件均選用進口器件.保證了儀器性能的高可靠性.
·windows 環(huán)境下開發(fā)的中英文操作軟件,.提供了豐富的*特色的分析功能..
技術參數(shù)：
產品型號 | SDW-1901 |
測光方式 | 透過率、吸光度、能量 |
波長范圍 | 190 nm～1100 nm |
光譜帶寬 | 0.5/1/2/4/5nm |
雜散光 | ≤±0.03 %T (220 nm ,360nmNaL) |
波長準確度 | ≤±0.3 nm |
波長重復性 | ≤0.1nm |
波長顯示 波長設定 | 0.1nm 0.1nm |
光度范圍 | 0-999.9%(T), -4 A～4 A,0-999,9C,1-9999F |
光度準確度 | ≤±0.3 %T (0～100 %T) |
| ≤±0.002A(0～0.5A) |
| ≤±0.004A(0.5～1A) ≤±0.006A(2.0A處) |
光度重復性 | ≤0.15%(T) (0-100%T) ≤± 0.001 A (0～0.5 A) |
| ≤±0.002A(0.5～1A) |
基線平直度 | ≤±0.0008 A (190nm-1100nm), |
分光器 穩(wěn)定性 | 全息光柵 ≤±0.0003A/h (700nm,開機預熱1h) |
噪聲 | ≤±0.0003 A |
電源 | 100/240V,50/60±1Hz |
導數(shù)分率 | >0.5 |
掃描速度 | 波長移動;約3000nm/min,波長掃描;24nm/min-1400nm/min |
光源切換波長 | 可自動切換，可在295-364nm范圍內任意設定切換波長 |
儀器特點:
·光度測量 可同時測量1～6個波長處的透過率和吸光度.
·光譜測量 在波長范圍內進行透過率、吸光度、和能量的圖譜掃描,并可進行各種數(shù)據(jù)處理如 峰谷檢測、導數(shù)運算、譜圖運算等.
·定量測量 單波長、雙波長、三波長和多波長測定.1～9點工作曲線(1～3次)回歸.
·動力學測定 在任意設定的波長處進行透過率和吸光度的時間掃描并可進行各種數(shù)據(jù)運算.
·數(shù)據(jù)輸出 可進行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測量結果以標準通用的數(shù)據(jù)文件格式輸 出.
PC版軟件功能：
基于Windows環(huán)境下開發(fā)的UVCON控制軟件，可對主機進行全面控制。
包括數(shù)據(jù)采集（單點測量、多點測量、光譜掃描、定量測定、時間掃描及DNA測定）和各種數(shù)據(jù)處理。
● 標準化、峰谷檢測、面積計算
● 圖譜的放大、縮小、平滑、倒數(shù)、四則運算、T－A轉換
● 單波長、多波長定量測定
● K系數(shù)法、一點工作曲線法、多點工作曲線法，可進行1～3次函數(shù)擬合
● 定量分析中的異常點剔除法
● 可對曲線系數(shù)進行校正
● 掃描圖譜、工作曲線和測試結果可海量存儲
● 測試報告以標準文件格式輸出
● 打印機可以任意選擇
