目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 分光輻射照度測量系統(tǒng)
該檢測器
是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。
覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制
LIV測量，脈沖點測量，樣品溫控測量
設備校準的標準燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準公司注冊。
照度、輻照度
光譜數據（光譜輻照度）
其他測量項目
三刺激值 XYZ、色度坐標 xy、uv、
u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度 顯
色指數 Ra、R1 至 R15
峰值波長、半寬
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD
半導體晶圓的面內分布測量
玻璃基板的面內分布測量
實時測量
流向品質管理
真空室適用
實時測量
寬度方向品質管理
超硬涂層的膜厚解析
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