您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
薄膜測(cè)厚儀的技術(shù)特點(diǎn)介紹
閱讀：1693 發(fā)布時(shí)間：2021-5-12
薄膜測(cè)厚儀，又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀、薄膜厚度儀等，薄膜測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
薄膜測(cè)厚儀的技術(shù)特點(diǎn)介紹
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的*大值、*小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
支持Lystem™實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸