X熒光射線測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XULM菲希爾X射線測(cè)厚儀是性能好、設(shè)計(jì)緊湊、應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。Fischerscope X-ray常用于無(wú)損測(cè)量細(xì)小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)及生產(chǎn)過(guò)程控制中測(cè)量使用。

Fischerscope X-ray菲希爾X射線測(cè)厚儀是用戶界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x, 配備手動(dòng)XY軸工作臺(tái)，用于細(xì)小樣品的精確定位。

Fischerscope X-ray XULM240菲希爾X射線測(cè)厚儀具備4個(gè)可切換準(zhǔn)直器, 3個(gè)可切換基本濾片, 采用比例接收器, 高分辨率CCD彩色攝像頭，手動(dòng)聚焦，LED亮度可調(diào)節(jié)

Fischerscope X-ray菲希爾X射線測(cè)厚儀使用時(shí)溫度范圍10℃-40℃，空氣相對(duì)濕度≤95%，無(wú)結(jié)露

X熒光射線測(cè)厚儀

已被證明的無(wú)損測(cè)厚儀：移動(dòng)厚度測(cè)量的FMP系列。超過(guò)70個(gè)可選探頭，您將找到適合大多數(shù)測(cè)量任務(wù)的正確解決方案。不同的測(cè)試方法保證了鋼材上涂層厚度和有色金屬上涂層厚度的精確測(cè)量。手持測(cè)厚儀的FMP10到FMP40系列，為您提供最大的靈活性，滿足測(cè)厚需求。 

我們提供以下型號(hào)：DELTASCOPE®磁感應(yīng)法、ISOSCOPE®渦流法和DUALSCOPE®磁感應(yīng)法和渦流法兩用。