輪廓儀

         FTS Intra 既可以通過(guò)PDA 控制處理器攜帶到任何工作場(chǎng)合去工作，控制分析單元對(duì)驅(qū)動(dòng)單元可連線控制，也可紅外遙控；也可以通過(guò)與電腦的對(duì)接，測(cè)量的數(shù)據(jù)直接傳輸至計(jì)算機(jī)，由 Ultra 軟件對(duì)儀器進(jìn)行控制及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的分析。作為標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量室內(nèi)的檢測(cè)設(shè)備。

        我們可以非常容易地把它從計(jì)量室?guī)У焦ぷ鞯攸c(diǎn)，即使是臨時(shí)的操作員也可以非常簡(jiǎn)單地進(jìn)行操作，并得到測(cè)量結(jié)果。當(dāng)然，由于設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)而易行的操作，您幾乎不用妨礙到生產(chǎn)的進(jìn)度，就可以完成這些您所需要的表面形狀與粗糙度的檢測(cè)。

輪廓儀

[主營(yíng)產(chǎn)品]fischer膜厚儀,粗糙度儀,激光干涉儀，三維掃描儀

便攜式粗糙度儀輪廓儀圓度儀

Surtronic 25 便攜式粗糙度儀（已停產(chǎn)）車間型精密粗糙度輪廓儀Form Talysurf Intra565/585XL

Surtronic DUO 粗糙度儀全自動(dòng)光學(xué)輪廓儀PGI DimensionTalyrond 595H

Surtronic S-100系列泰勒霍音森Form Talysurf ilTalyrond 565H

Surtronic S-116泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP Talyrond 400H

Surtronic S-128泰勒霍普森Form Talysurf PGITalyrond 450

Surtronic 3+ / Surtronic 3 Plus（早已停產(chǎn)）光學(xué)輪廓儀Talysurf PGI OpticsSurtronic R100

粗糙度儀配件英國(guó)Taylor Hobson PGI Matrix Talyrond 131c

 泰勒LuphoScan 260/420 HDSurtronic R50-R80

 Form Talysurf PGI NOVUSTalyMaster

  Talyrond 130

CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀簡(jiǎn)介

CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀，具有測(cè)量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關(guān)聯(lián)算法，來(lái)查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業(yè)的非接觸式尺寸測(cè)量功能和專業(yè)的厚薄膜測(cè)量技術(shù)。

CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測(cè)量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測(cè)量。 近年來(lái)厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料；測(cè)量的厚度限制取決于材料的折射率和標(biāo)的物的 NA。 測(cè)量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高。

現(xiàn)在通過(guò)干涉測(cè)量法可以研究厚度至 50 納米（同樣取決于折射率）的薄膜涂層。 采用這種新型方法，可以在單次測(cè)量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。