一款適合電鍍廠(chǎng)測(cè)量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。

它配備了一個(gè)固定的準(zhǔn)直器和濾片，射線(xiàn)管出射

點(diǎn)稍大，非常適合測(cè)量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用。低

能射線(xiàn)元件激發(fā)效率較低；但是對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量典

型電鍍層厚度的應(yīng)用，如Cr、Ni、Cu，沒(méi)有任何問(wèn)題。

多用途的鍍層厚度測(cè)量?jī)x。無(wú)論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μm Sn）都通過(guò)選擇好的高壓濾片組合很好地測(cè)量。微聚焦管可以達(dá)到在很短的測(cè)量距離內(nèi)小到100 μm的測(cè)量點(diǎn)大小。高達(dá)數(shù)kcps的計(jì)數(shù)率可以被比例接收器接收到。

FISCHERSCOPE  XAN 110/120

FISCHERSCOPE  XAN

專(zhuān)門(mén)為分析金合金開(kāi)發(fā)的劃算的儀器。比較

XAN而言，只有一個(gè)固定的準(zhǔn)直器和固定的

濾片，特別適合貴金屬分析。XAN 110配備

比例接收器，適于幾種合金元素的簡(jiǎn)單分析。

XAN 120配備了半導(dǎo)體接收器，更可以應(yīng)用于

多元素的復(fù)雜分析。

分析儀器，測(cè)量方向從下到上。用途廣泛。測(cè)量室全封閉，可以使用大準(zhǔn)直器分析，高計(jì)數(shù)率也可以被硅漂移探測(cè)器處理。激發(fā)和輻射檢測(cè)方式與XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物質(zhì)痕量分析的理想儀器。

FISCHERSCOPE XDL

FISCHERSCOPE XDLM

適合鍍層厚度測(cè)量的耐用儀器，即使大測(cè)量距

離也可以測(cè)量（DCM，范圍0-80mm）。配

備一個(gè)固定的準(zhǔn)直器和固定的濾片。適合測(cè)量

點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用；跟XUL類(lèi)似。可選用自

動(dòng)測(cè)量的可編程工作臺(tái)。

比XDL適用面更廣，配備微聚焦管，4個(gè)可切換的準(zhǔn)直器和3個(gè)基本濾片。測(cè)量頭
與XULM相似；適合于測(cè)量小的結(jié)構(gòu)如接插件觸點(diǎn)或印刷線(xiàn)路板，也可以測(cè)量大的
工件（DCM，范圍0-80 mm）。

FISCHERSCOPE  XDAL

FISCHERSCOPE  XDV-SDD

與XDLM類(lèi)似但配備了半導(dǎo)體接收器。這樣就可

能可以分析元素和測(cè)量超薄鍍層（基于良好的信

噪比）。因?yàn)樾盘?hào)強(qiáng)度略低，不太適合測(cè)量較小的結(jié)構(gòu)。

適合于全部應(yīng)用的機(jī)型。根據(jù)測(cè)量點(diǎn)大小和光譜組成，激發(fā)方式靈活多樣。配備了硅漂移接收器，即使強(qiáng)度高達(dá)>100kcps的信號(hào)也可以在不損失分辨率的情況下處理

FISCHERSCOPE  XDV-μ

FISCHERSCOPE 

于微觀(guān)分析的測(cè)量?jī)x器。根據(jù)X射線(xiàn)光學(xué)部件

的不同，可以分析小到100μm或更小的結(jié)構(gòu)。強(qiáng)

度很高所以精度也非常好。即使很薄的鍍層，測(cè)量

不確定性小于1nm也是可能的。僅適于測(cè)量空白或

接近空白的樣品。

具備綜合測(cè)量能力的通用機(jī)型。與XDV-XDD相當(dāng)，但另外配備了可抽真空的測(cè)量室，這樣就使得分析從原子序數(shù)Z=11（Na）開(kāi)始的輕元素成為可能。高精度的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的XYZ平臺(tái)和視頻攝像頭可以準(zhǔn)確定位樣品位置和測(cè)量細(xì)小部件