一、技術原理：
(1)具有可熱插拔的透射和漫反射近紅外光譜分析裝置，直接測定未經(jīng)任何處理的原始顆粒、粉末和液體，膏狀、片劑和單粒樣品的有關組份；
(2)波長范圍：掃描波長范圍400-2500nm；
(3)掃描方式：單波長快速掃描、光譜平均方式；
(4)波長準確度：<0.05nm(SRMNIST1920)，波長精確度：0.005nm；
(5)檢測器：(400-1100nm)硅，(1100nm-2500nm)硫化鉛；
(6)系統(tǒng)噪音(RMS方法)<50uA(400-700nm)；<20uA(700-2500nm)(32個掃描平均)；
(7)光斑設定：可調光斑裝置，光斑直徑9.5-17.25mm,谷物大顆粒分析可設定至最大光斑。
二、區(qū)別：
(1)近紅外分析儀是一種用于工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器，
(2)近紅外快速分析儀是一種用于生物學、農(nóng)學領域的分析儀器，
(3)近紅外快速分析儀對水稻的水分、蛋白質、淀粉含量進行測定和分析，
(4)近紅外分析儀高靈敏度：可檢測單拷貝基因，主要用于種子生理生化分析。
三、特點：
(1)近紅外光譜區(qū)范圍為780~2526nm，是介于可見光和中紅外光之間的電磁波，在檢測樣品前首先要了解測試光譜的范圍。
(2)近紅外光(NearInfrared，NIR)是介于可見光(VIS)和中紅外光(MIR)之間的電磁波，ASTM定義的近紅外光譜區(qū)的波長范圍為780~2526nm(12820～3959cm1)，習慣上又將近紅外區(qū)劃分為近紅外短波(780~1100nm)和近紅外長波(1100~2526nm)兩個區(qū)域。
