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在材料檢測與研發(fā)中,科研人員常常面臨一個(gè)抉擇:用掃描電鏡(SEM)看清樣品形貌后,若想進(jìn)一步分析其成分、缺陷或發(fā)光特性,往往需要切換模式、更換探測器,甚至動用另一臺專用設(shè)備。這個(gè)過程耗時(shí)耗力,還可能丟
JEOL冷凍電鏡成功觀測到蛋白質(zhì)中的氫原子、電荷及化學(xué)鍵日本理化研究所、東北大學(xué)和JST(科學(xué)技術(shù)振興機(jī)構(gòu))的科學(xué)家們利用JEOLCryoARM300冷凍電子顯微鏡以1.19埃的分辨率,成功觀測到蛋白
第20屆國際顯微鏡學(xué)會于今年9月10日-15日在韓國釜山的BEXCO舉行。JEOL攜帶涵蓋各領(lǐng)域的新技術(shù)和實(shí)用技術(shù)的有用信息出展IMC20,并布置各種產(chǎn)品信息板塊:半導(dǎo)體用JEM-ACE200F-TE
掃描電子顯微鏡(SEM)通過高能電子束與樣品表面的相互作用,實(shí)現(xiàn)納米級分辨率的微觀形貌與成分分析。其核心工作原理基于電子-物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的信號采集與同步成像,技術(shù)架構(gòu)涵蓋四大核心系統(tǒng)。一、工作原理:
面分析是用于揭示材料表面數(shù)納米至數(shù)微米深度范圍內(nèi)的元素組成、化學(xué)狀態(tài)及微觀結(jié)構(gòu)的分析技術(shù)。該技術(shù)能夠從原子尺度認(rèn)識和說明材料表面的物理化學(xué)變化及其與表面有關(guān)的宏觀性質(zhì)的聯(lián)系。腐蝕、磨損、黏附及其他影響
掃描電鏡的能譜儀(EDS)是一種基于電子束與樣品相互作用實(shí)現(xiàn)元素成分分析的重要工具,其原理與應(yīng)用可歸納如下:原理EDS的核心原理是利用電子束轟擊樣品表面,激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子躍遷,產(chǎn)生特征X射線。不同
掃描電子顯微鏡是現(xiàn)代科學(xué)研究中重要的高精度分析儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域。其高分辨率和強(qiáng)大的微觀結(jié)構(gòu)分析能力為科研人員提供了重要的技術(shù)支持。然而,為了確保設(shè)備的穩(wěn)定性和成
離子切片儀(聚焦離子束系統(tǒng),F(xiàn)IB)作為納米級材料表征與加工的核心設(shè)備,通過高能離子束實(shí)現(xiàn)材料的精準(zhǔn)切割與三維重構(gòu),在材料科學(xué)、電子器件及納米技術(shù)領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用。工作原理:離子切片儀的核心是利用離子
一、電子光學(xué)系統(tǒng):聚焦與掃描的核心電子光學(xué)系統(tǒng)是掃描電鏡(SEM)的核心組成部分,負(fù)責(zé)產(chǎn)生、加速、聚焦及控制電子束在樣品表面的掃描。其核心部件包括:電子槍:作為電子源,通過熱發(fā)射或場發(fā)射產(chǎn)生自由電子。
日常維護(hù)核心要點(diǎn)環(huán)境控制SEM對溫濕度敏感,需保持實(shí)驗(yàn)室溫度在18-25℃、濕度≤60%RH,避免高溫導(dǎo)致電子元件老化或高濕度引發(fā)電路腐蝕。設(shè)備應(yīng)置于獨(dú)立防震臺,遠(yuǎn)離門窗、通風(fēng)口及高頻電源等干擾源,并
超高壓透射電鏡是一種高精度的微觀分析儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、物理學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。由于其復(fù)雜的結(jié)構(gòu)和高精度要求,操作超高壓透射電鏡需要掌握一定的技巧,并嚴(yán)格遵守操作規(guī)范。以下是超高壓透射電鏡操作
實(shí)驗(yàn)選用市售Pd納米粒子作為樣品,甲烷(CH4)和氧氣(O2)作為反應(yīng)氣體,在25到960°C的加熱過程中用TEM和MS分別對樣品形態(tài)結(jié)構(gòu)及氣相產(chǎn)物進(jìn)行觀察分析。Table1顯示了每個(gè)設(shè)備的測量條件。結(jié)果Figure2顯示了原位樣品桿的加熱程序(中)、對應(yīng)的TEM圖像(上)及m/...
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