【凱視邁】三合一精測(cè)顯微鏡KC-X3000系列
凱視邁表面光學(xué)三維輪廓儀KC-X3000型號(hào)是一款亞微米級(jí)檢測(cè)儀器，廣泛應(yīng)用于微小結(jié)構(gòu)及特殊材料的表面掃描與測(cè)量。測(cè)量模塊采用光譜共焦技術(shù)，可非接觸、高精度地測(cè)量各類(lèi)材質(zhì)的高度信息。結(jié)合反饋控制的XY掃描模塊及三維成像算法，獲得精細(xì)的表面微觀結(jié)構(gòu)。在功能豐富的圖形后處理模塊中，還可靈活地進(jìn)行圖像處理，并執(zhí)行平面、輪廓、平均臺(tái)階、點(diǎn)高度、峰谷、體積、面積、粗糙度等測(cè)量功能。KathMaticKC系列激光光譜共聚焦顯微鏡在半導(dǎo)體、消費(fèi)電子、鋰電池、新材料開(kāi)發(fā)、光學(xué)器件制造、機(jī)械加工等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用，獲得了用戶(hù)的一致認(rèn)可。
超大的掃描范圍：可測(cè)量樣品尺寸可達(dá)350mm×300mm
測(cè)量精度：Z軸分辨率可達(dá)2nm
分析功能：軟件自帶圖像處理分析功能，可進(jìn)行輪廓分析、平面分析、體 積分析、粗糙度分析、統(tǒng)計(jì)分析等數(shù)據(jù)分析工作
設(shè)備操作：樣品無(wú)需前處理，軟件自帶操作導(dǎo)航，交互界面清晰易懂，稍 加學(xué)習(xí)即可進(jìn)行專(zhuān)業(yè)測(cè)量
材質(zhì)適應(yīng)性：所有材質(zhì)均可測(cè)量，樣品反射率幾乎不影響測(cè)量，表面斜率 適應(yīng)性高達(dá)±45°
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