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當前位置：山金工業(yè)（深圳）有限公司>>otsuka大塚電子>> 實惠otsuka大塚電子 SM-100P 智能涂層測厚儀
更新時間：2026-02-23 14:01:04瀏覽次數(shù)：365次
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otsuka大塚電子 FE-300F 薄膜厚度監(jiān)測儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
otsuka大塚電子 SM-100P 智能涂層測厚儀
otsuka大塚電子 SM-100P 智能涂層測厚儀
高精度便攜式薄膜測厚儀
“
我想測的時候不能立即測量"、
“測量結(jié)果因人而異"、
“測量精度差"
您在測量薄膜厚度時是否遇到過這些問題？這款智能薄膜測厚儀具備以下特點，可以解決您的問題。
?便于攜帶至生產(chǎn)現(xiàn)場
?它很簡單，任何人都可以使用。
?即使是手持式也能進行高精度測量
?形狀不規(guī)則的樣品也可以進行無損測量
規(guī)格
規(guī)格
物品專業(yè)版標準
模型SM-100PSM-100S
測量方法反射光譜法（光學干涉法）
測量薄膜厚度范圍*10.1 至 100 微米（單層）
1 至 100 微米（多層）1至50微米（單層）
多層支撐最多 3 層1層
測量重復性2.1σ 0.01μm（氧化硅薄膜 1μm）
測量點直徑直徑 1 毫米或更小
數(shù)據(jù)輸出格式以文本格式導出到U盤
體型尺寸約為 138（寬）x 198（深）x 61（高）毫米
（含凸起部分）
重量約1.1公斤
運行時間超過 4 小時（測量期間）
電源電壓/功率AC100-240V/35VA（交流適配器輸入）
保護等級IP30/IK06
*1 當樣品折射率為 1.6 時
測量目標
測量目標
?光學薄膜
?涂層薄膜
（防反射薄膜、粘合層等）
?半導體
（氧化膜、光刻膠膜等）
?各種薄膜
（食品薄膜、醫(yī)用薄膜、建筑材料薄膜等）
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