otsuka大塚電子 MINUK 3D 光波場三維顯微鏡

otsuka大塚電子 MINUK 3D 光波場三維顯微鏡

 光波場三維顯微鏡

立即更準(zhǔn)確地

可視化并量化 您想要看到的內(nèi)容一種前所未見的獨(dú)特觀察方法！

示例

電影

玻璃

波導(dǎo)

凝膠

細(xì)胞

蛋白質(zhì)聚集體

ETC。

檢測目標(biāo)示例

劃痕

填料

空白

細(xì)胞形狀

核心形狀

折射率不均勻性

ETC。

觀察項(xiàng)目

門診部

OPD Edge

明場

邊緣

光振幅

微分

ETC。

研討會

日期：2025年11月19日在線的活動(dòng)結(jié)束網(wǎng)絡(luò)研討會【專題研討會：利用光波場三維顯微鏡觀察培養(yǎng)細(xì)胞及其應(yīng)用】

MINUK的發(fā)展理念

傳統(tǒng)觀念

當(dāng)你想看某樣?xùn)|西時(shí)，你會通過鏡頭去看它。

充分利用鏡頭來獲取“接近真相"的信息

為了盡可能接近真相，需要 在校正、計(jì)算和機(jī)制方面取得技術(shù)進(jìn)步。

新思路

看清真相，規(guī)劃未來。

通過直接獲取光信息，

計(jì)算并可視化光波的傳播方式

建立高速處理技術(shù)以捕捉真相

傳統(tǒng)顯微鏡存在的問題

視野范圍狹窄，需要時(shí)間才能確定異物的位置。

我不知道我想看的區(qū)域的深度，所以我必須不斷拍攝多張照片來確定它。

無法檢測到肉眼不可見的納米級變化

如果是MINUK！

只需將其放在物體上，即可隨時(shí)使用非破壞性、非接觸式3D 觀察技術(shù)觀察和測量您想要查看的區(qū)域，無需

物理聚焦！

當(dāng)激光照射到物體上時(shí)，由于物體厚度和折射率的變化，波前會發(fā)生改變。

這種變化會被波前傳感器捕捉到，然后使用專用軟件進(jìn)行數(shù)值分析，從而重建圖像。

用例使用示例

提出只有MINUK才能解決的技術(shù)難題

任務(wù)1

我們希望準(zhǔn)確區(qū)分 膠片顯影過程中的顆粒和空隙。

顆粒和空隙是可以區(qū)分的。

根據(jù) OPD 的大小可以區(qū)分顆粒和空隙，這有助于確定缺陷的原因。

任務(wù) 2客戶要求高質(zhì)量的產(chǎn)品管理

，因此有必要量化難以識別的劃痕。

過程中可能出現(xiàn)不符合項(xiàng)判定。

可以檢查劃痕的高度、橫截面形狀和三維形狀，從而在過程中進(jìn)行不合格判斷。

任務(wù)3

我們想量化 原型形狀是否符合設(shè)計(jì)。

精確量化傾斜形狀

提供可靠的數(shù)值數(shù)據(jù)。能夠量化薄膜表面的形狀。

任務(wù) 4觀察光纖和波導(dǎo)的纖芯形狀

，并量化折射率分布

可進(jìn)行非接觸式門診觀察

無需接觸即可輕松進(jìn)行 OPD 觀察，無需花費(fèi)時(shí)間和精力即可優(yōu)化條件。

任務(wù)5我們不僅想量化TGV 的表面，還想量化其內(nèi)部形狀并確定其深層位置。

對任何深度進(jìn)行無損觀測

可以無損地觀察玻璃表面到內(nèi)部和背面的任何深度處的 TGV 形狀，使其成為評估加工質(zhì)量的理想方法。

任務(wù)6

我想以非染色、非侵入性的方式 觀察 活體生物，例如細(xì)胞。

可進(jìn)行非接觸式和非侵入式測量

可以以非接觸式和非侵入式的方式測量細(xì)胞等生物體的形狀變化和高度。這或許能夠利用新的指標(biāo)來評估物體。

特征特征

快速簡便地測量透明物體的表面和內(nèi)部尺寸

特征01由于具有寬廣的視場（700 μm）和高分辨率（488 nm），因此無需

在測量對象中尋找異物。

以前，由于視野狹窄，需要繞著物體尋找異物等。然而

，MINUK 直接記錄樣品光，無需經(jīng)過成像光學(xué)系統(tǒng)，從根本上解決了透鏡像差問題，

實(shí)現(xiàn)了大深度、寬視野、無像差的成像。

特征02可采集1400微米深度范圍內(nèi)的所有信息，并可沿任意高度進(jìn)行切片。單次測量即可獲取相當(dāng)于

數(shù)千張圖像的信息。

以往，無法確定目標(biāo)區(qū)域的深度，需要拍攝數(shù)千張圖像才能找到目標(biāo)區(qū)域。MINUK 可即時(shí)測量 700 x 700 μm 區(qū)域內(nèi)、深度方向 1400 μm 范圍內(nèi)的信息。它以約 2 μm 的分辨率采集約 700 張切片圖像，這些信息可以進(jìn)行數(shù)字化重聚焦，從而對三維結(jié)構(gòu)進(jìn)行進(jìn)一步驗(yàn)證。

特征03可視化透射率和折射率的三維分布，并量化

不可見的納米級表面形貌

傳統(tǒng)上，聚焦困難，量化也不可能，但 MINUK 可以量化納米級的表面形狀（肉眼不可見），并能檢測折射率的微小變化。