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當前位置：山金工業(yè)（深圳）有限公司>>otsuka大塚電子>> 原廠otsuka大塚電子 SF-3/300 晶圓光譜測厚儀
otsuka大塚電子 FE-300F 薄膜厚度監(jiān)測儀
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,建材/家具,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|---|---|---|
| 尺寸 | 30 英寸 x 14.25 英寸 x 13.25 英寸 76 厘米 x 36 厘米 x 33.5 厘 | 重量 | 90 磅 | 41 千克 |
| 電氣 | 115/230 伏 50/60 赫茲電源線 | 氣相色譜-I | 適用于 P-2000/G 的帶把手玻璃夾（2 套） |
| 玻璃管 | 鋁硅酸鹽 |
otsuka大塚電子 SF-3/300 晶圓光譜測厚儀
otsuka大塚電子 SF-3/300 晶圓光譜測厚儀
產品信息
特征
可進行非接觸式、非破壞性厚度測量
反射式光學系統(tǒng)（可從一側接觸進行測量）
可實現高速（最高 5kHz）和實時評估
高穩(wěn)定性（重復性小于0.01%）
耐粗糙度
可在任何距離使用
支持多層結構（最多 5 層）
內置NG數據清除功能
要點一：獨特技術
它可處理多種厚度的薄膜，并實現高波長分辨率。
大塚電子的獨特技術被集成于緊湊的機身之中。
要點2：高速響應
它也非常適合工廠生產線，因為它可以精確地測量運動物體的螺距。
要點3：適用于各種表面狀況的樣品
直徑約為 φ20 μm 的微小光斑
即使對于表面狀況各異的樣品也能進行厚度測量。
第四點：與各種環(huán)境兼容
測量距離可達 200 毫米，
您可以根據自己的目的和應用創(chuàng)建合適的測量環(huán)境。
測量項目
厚度測量（5層）
目的
各種厚膜厚度
*1：測量初始標準樣品氣隙約為 1000 μm 時的相對標準偏差 (n = 20)
*2：使用 WD 80 mm 探頭時的設計值
非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領域的基礎研究和應用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。
● 新型功能材料領域
- 燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
- 納米生物相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
● 陶瓷/著色材料工業(yè)領域
- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）
- 漿料狀樣品
- 濾光器
- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導體領域
- 異物附著在硅晶片表面的原理解析
- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
- CMP漿料的相互作用
● 聚合物/化工領域
- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
- 聚電解質（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究
- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業(yè)領域
- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測
- 脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測
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