核心技術(shù)，精準(zhǔn)測(cè)量

菲希爾 XDL210 X射線測(cè)厚儀運(yùn)用先進(jìn)的 X 射線熒光光譜法，實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層厚度的精準(zhǔn)測(cè)量。這種無(wú)損檢測(cè)方式，不僅能確保樣品的完整性，更通過(guò)自動(dòng)聚焦功能，將測(cè)量準(zhǔn)確性提升到新的高度。無(wú)論是汽車發(fā)動(dòng)機(jī)零部件、航空航天金屬結(jié)構(gòu)件，還是電子設(shè)備外殼等，在大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件鍍層檢測(cè)中，XDL210 都能精準(zhǔn)給出厚度數(shù)據(jù)，為質(zhì)量控制提供堅(jiān)實(shí)保障。其元素測(cè)量范圍涵蓋 Cl（17）-U（92），最多可同時(shí)測(cè)量 24 種元素、23 層鍍層，復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)也能輕松應(yīng)對(duì)。

強(qiáng)大硬件，適配多樣需求

硬件性能是菲希爾 XDL210 X射線測(cè)厚儀的又一亮點(diǎn)。其動(dòng) X/Y 平臺(tái)移動(dòng)范圍≥95x150mm，可用工作臺(tái)面≥420x450mm，足以滿足多樣品放置與測(cè)量需求，無(wú)論是小型零部件還是較大尺寸的樣品，都能在工作臺(tái)上穩(wěn)定就位。電動(dòng) Z 軸支持手動(dòng) / 自動(dòng)聚焦，移動(dòng)范圍≥140mm，可適配不同高度樣品，測(cè)量過(guò)程更加靈活便捷。測(cè)量距離補(bǔ)償法（DCM）技術(shù)的運(yùn)用，使其可實(shí)現(xiàn) 80mm 深度的腔體樣品遠(yuǎn)距離對(duì)焦測(cè)量，對(duì)于已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)部件的測(cè)試，表現(xiàn)出色?？勺兏邏褐С?30KV、40KV、50KV 三檔調(diào)節(jié)，配合 φ0.3 的圓形準(zhǔn)直器（還有多種規(guī)格可選），以及穩(wěn)定的比例接收器 X 射線探測(cè)器，無(wú)論何種測(cè)試場(chǎng)景，XDL210 都能精準(zhǔn)捕捉信號(hào)，保證測(cè)量精度。高分辨率 CCD 攝像頭，放大倍數(shù) 40 - 160 倍，沿初級(jí) X 射線光束方向觀察測(cè)量位置，手動(dòng)聚焦、十字線（帶有經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的刻度和測(cè)量點(diǎn)尺寸）、可調(diào)節(jié)亮度的 LED 照明，以及激光光點(diǎn)定位，讓樣品觀察與定位變得輕而易舉。