手機版
化工儀器網(wǎng)手機版
化工儀器網(wǎng)小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
X射線熒光分析法以及原理信息
X射線熒光分析法:
能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能勝任，并還可以與現(xiàn)代化設備一起發(fā)揮作用。
X射線熒光分析fa作為一種常用測試方法，有著其突出的優(yōu)勢。它幾乎可以測量所有工藝相關元素，并且工作時無損且不接觸樣品。測量時間一般在數(shù)秒鐘內(nèi)，很少多于一分鐘。通常不需要復制的樣品制備，即可進行快速測量。利用該方法，可以同時測量均質(zhì)材料及鍍層的厚度和化學成分。不僅如此，X射線熒光分析方法檢測各種類型樣品里的微量有害物質(zhì)。
原理：
X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象：樣品材料中的原子由于受到初級X射線轟擊，從而失去內(nèi)層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填補，在填補的過程中，會產(chǎn)生每個元素的特征X射線熒光。接收器探測到該熒光射線后，便能提供樣品的材料組成等信息。
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權或有權使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權使用作品的，應在授權范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關權利。
采購中心