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X 射線熒光測厚儀 XDL 系列信息
德國菲希爾 X 射線熒光測厚儀 XDL 系列，以其性能在材料檢測領域占據重要地位。其中，XDL 230 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它采用手動方式，能精準測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層，以及大規(guī)模生產零部件上的鍍層。
XDL 230 具備諸多出色特性。在穩(wěn)定性方面表現良好，長期使用無需頻繁校準儀器，為用戶節(jié)省了大量時間與精力。其比例接收器可實現高計數率，從而保障了高精度測量，能精準檢測出鍍層厚度的細微差別。該儀器采用 FISCHER 基本參數法，突破傳統限制，無論是復雜的鍍層系統，還是固體和液體樣品，均可在無標準片的情況下完成測量和分析，極大提升了檢測的靈活性與便捷性。
從操作便利性來看，XDL 230 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的 XY 工作臺搭配馬達驅動的 Z 軸系統，方便靈活。高分辨率的彩色視頻攝像頭具有強大放大功能，可精確定位測量位置，操作人員還能通過視頻窗口實時觀察測量過程和進度。儀器配備的激光點，進一步輔助定位，能快速對準測量位置。測量箱底部的開槽設計，專為面積大而形狀扁平的樣品打造，使儀器可測量比測量箱更長和更寬的樣品，比如大型的印制電路板，輕松滿足多樣化的檢測需求。
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