菲希爾XDL熒光射線測厚儀信息
菲希爾X熒光射線測厚儀,XDL系列
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是德國菲希爾公司生產(chǎn)的一款高精度、能量色散型X射線熒光(EDXRF)測厚與材料分析儀。該系列儀器基于廣泛應用的XDL-B型升級而來,適用于鍍層厚度測量、材料成分分析及電鍍液分析,廣泛應用于質(zhì)量控制、來料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
主要特點
無損檢測:對樣品無損傷,適合精密零部件和批量生產(chǎn)檢測。
無需標準片:采用基本參數(shù)法(Fundamental Parameters Method),可在無標準樣品的情況下進行精確測量。
元素測量范圍:可檢測從氯(Cl, 原子序數(shù)17)到鈾(U, 原子序數(shù)92) 的元素。
測量距離靈活:支持0–80 mm的測量距離,配備DCM(Distance Compensation Method)測量距離補償技術,確保在不同距離下測量精度穩(wěn)定。
高分辨率成像:內(nèi)置高分辨率CCD彩色攝像頭,便于精確定位測量區(qū)域。
堅固設計:C型開槽大容量測量艙,適合大型或復雜形狀工件。
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