應(yīng)用小站 | 頻域熱反射法測量納米材料的熱導(dǎo)率
3ω法、拉曼光譜法、時域熱反射法(TDTR)和頻域熱反射法(FDTR)是納米材料熱導(dǎo)率測量中常用的技術(shù),它們各有原理和適用場景,本文主要介紹林賽斯 TF-LFA L54 頻域熱反射法測量納米材料的熱導(dǎo)率。
頻域熱反射法是一種在頻域內(nèi)對薄膜熱性能進行非接觸式表征的測量技術(shù)。該方法利用熱反射效應(yīng)構(gòu)建一個高靈敏度的溫度計,通過監(jiān)測樣品的反射率來檢測其表面的溫度變化。檢測時使用波長為532nm的連續(xù)激光(探測激光),同時使用不同波長(405nm)的調(diào)制泵浦激光進行加熱。局部加熱會引起反射率的變化,熱激發(fā)與檢測之間的相位滯后是通過鎖相放大器測量的。利用熱擴散傳輸模型對頻域中的響應(yīng)進行建模,可以確定熱導(dǎo)率、體積熱容、熱擴散率、傳熱效率和邊界熱導(dǎo)率。在樣品表面頂部沉積一層薄薄的金屬換能器層(厚度為60-70nm),以提高反射率的溫度系數(shù)(dR/dT),同時降低激光在材料中的穿透深度。



如下圖所示,采用林賽斯 TF-LFA L54 對金剛石、二氧化硅等五種納米材料的熱導(dǎo)率進行了測量,結(jié)果顯示,該五種納米材料熱導(dǎo)率的測量值與文獻值均具有較好的一致性,證明了 TF-LFA L54 測量系統(tǒng)在納米材料熱性能表征中的準(zhǔn)確性和可靠性。


三、總結(jié)
熱導(dǎo)率是材料科學(xué)中的一個關(guān)鍵因素,精確測量熱導(dǎo)率對于材料科學(xué)研究、工程應(yīng)用開發(fā)、能源技術(shù)革新及工業(yè)質(zhì)量控制等多個領(lǐng)域至關(guān)重要。然而對于納米材料而言,由于其小體積、異質(zhì)結(jié)構(gòu)和特殊界面效應(yīng),使得傳統(tǒng)熱性能測量方法難以直接應(yīng)用,這給納米材料熱導(dǎo)率的測量帶來了特殊的技術(shù)挑戰(zhàn)。頻域熱反射法是一種在頻域內(nèi)對薄膜熱性能進行非接觸式表征的測量技術(shù),該方法無需提供材料的熱容和密度,允許對材料進行各項異性(面間和面內(nèi)方向)測量,是解決納米材料熱導(dǎo)率測量難題的有效方法。
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