KLA 探針式臺階儀工作原理
KLA探針式臺階儀基于"探針接觸掃描+傳感器反饋"技術(shù),通過探針與樣品表面接觸并掃描,結(jié)合高精度傳感器實(shí)時反饋位移變化,實(shí)現(xiàn)納米級至微米級臺階高度、表面形貌及應(yīng)力的二維/三維測量。以下是其工作原理的詳細(xì)解析:
核心工作原理:
探針接觸與掃描
探針設(shè)計:采用金剛石材質(zhì)探針,針尖半徑可細(xì)至0.7μm或更小,確保高橫向分辨率。探針以極輕的力(0.03~50mg)接觸樣品表面,避免損傷軟質(zhì)或脆性材料(如光刻膠、硅晶圓)。
掃描方式:通過樣品臺或探針在X-Y平面勻速移動,探針沿表面劃過時,因表面微觀起伏(如臺階、粗糙度)產(chǎn)生Z軸方向位移。
傳感器反饋與位移測量
LVDC傳感器技術(shù):KLA P系列臺階儀(如P-7、P-17)采用低電壓差動電容(LVDC)傳感器。探針運(yùn)動帶動薄金屬葉片在兩個電容板間移動,導(dǎo)致電容變化,該變化被轉(zhuǎn)換為電信號并實(shí)時反饋位移。
優(yōu)勢:LVDC設(shè)計質(zhì)量小、葉片線性運(yùn)動,將滯后和摩擦降至最低,實(shí)現(xiàn)垂直方向0.01Å(0.001nm)級分辨率和全垂直范圍內(nèi)高精度測量。
力控制:通過LVDT(線性可變差動變壓器)傳感器檢測彈簧形變量,精準(zhǔn)控制探針壓力,確保恒定力掃描,提升測量一致性。
數(shù)據(jù)處理與三維渲染
高度點(diǎn)陣采集:多條掃描線的Z軸數(shù)據(jù)拼接形成密集“高度點(diǎn)陣”,覆蓋樣品表面整個區(qū)域(如P-17支持200mm掃描平臺,無需拼接)。
三維形貌重建:軟件將高度數(shù)據(jù)渲染為彩色三維圖像或等高線圖,直觀展示表面特征(如臺階邊緣、劃痕、凸起),并支持截面/線數(shù)據(jù)提取。
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